English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(453)
Новости Anritsu(99)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(72)
Новости Keysight Technologies(530)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(255)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(60)
Новости Rohde & Schwarz(414)
Новости Tektronix(189)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(78)
Новости Росстандарта(106)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новости

17.03.2009 | 2456
Новые удлинители АКТАКОМ: качественное электропитание - безопасность Вашей техники! Удлинители АТР-9106, АТР-9108 – это прекрасные технические и прочностные характеристики, стильный дизайн и уникальные гарантийные обязательства.

11.03.2009 | 2145
Новая версия анализатора источников сигналов FSUP50 Полностью закончено обновление линейки анализаторов источников сигналов Rohde & Schwarz. Анализатор источников сигналов FSUP50 обладает всеми теми же возможностями, что и анонсированные ранее анализаторы FSUP8 и FSUP26. Теперь при установке опций FSUP-B60 и FSUP-B61 измерение фазовых шумов с использованием перекрестной корреляции доступно в частотном диапазоне от 1 МГц до 50 ГГц.

10.03.2009 | 2437
Компания National Instruments представила новое оборудование семейства CompactRIO Компания National Instruments анонсировала выпуск нового оборудования семейства CompactRIO, которое позволит специалистам создавать готовые промышленные системы гораздо быстрее, снижая при этом время их выхода на рынок и стоимость разработки.

05.03.2009 | 2319
Новые версии анализаторов источников сигналов FSUP8 и FSUP26 Компанией Rohde & Schwarz  выпущены новые аппаратные версии анализаторов источников сигналов FSUP8 и FSUP26. Новые модификации обладают расширенными возможностями и улучшенными характеристиками. Новые версии приборов, как и предыдущие, выполнены в одном корпусе (т.е не требуют внешних переносчиков частоты) и предлагают также полнофункциональный режим анализатора спектра с опциями анализа векторной модуляции и измерения коэффициента шума.

04.03.2009 | 2408
Частотный диапазон серии анализаторов спектра серии FSV расширен до 30 ГГц Компания Rohde & Schwarz выпустила две новые модели анализаторов спектра серии FSV, предназначенные для сверхвысокочастотных приложений. Модели FSV13 и FSV30 имеют частотный диапазон от 9 кГц до 13,6 ГГц/30 ГГц с возможностью расширения частоты вниз до 20 Гц. Новые приборы обладают всеми преимуществами, реализованными в низкочастотных FSV3/7.

04.03.2009 | 2356
Уникальное разрешение цифровых преобразователей временных интервалов компании Agilent Technologies позволяет выполнять прецизионные измерения временных соотношений Компания Agilent Technologies объявила о расширении линейки цифровых преобразователей временных интервалов (TDC) Acqiris U1050A. Теперь эта линейка включает новую модель, предлагающую сверхвысокое разрешение по времени, превращая TDC в идеальный инструмент для прецизионных измерений времени в связи, ядерных исследованиях и оборонных приложениях.

03.03.2009 | 2304
Опция уменьшения фазовых шумов вблизи несущей для генераторов SMF100A Теперь генераторы СВЧ серии Rohde & Schwarz SMF100A могут быть оснащены опцией SMF-B22, при этом в состав опции сразу же включается опорный генератор повышенной стабильности SMF-B1. Данная опция уменьшает фазовые шумы прибора вблизи несущей при отстройках менее 1 кГц в среднем на 8 дБ относительно базовой модели.

03.03.2009 | 2353
Компания National Instruments выпустила первый промышленный контроллер PXI на базе четырехядерного процессора Компания National Instruments анонсировала выпуск встраиваемого контроллера NI PXI–8110. Новый контроллер представляет собой первый промышленный встраиваемый четырехядерный контроллер для платформ PXI в корпусе формата 3U. Благодаря использованию четырехядерного процессора Intel® Core™ 2 Q9100 с тактовой частотой 2.26 ГГц, наличию блока оперативной памяти типа DDR2 объемом 4 ГБ, работающей на частоте 800 МГц, а также высокопроизводительного жесткого диска, со скоростью вращения 7200 об./мин. данный контроллер можно по праву считать самым производительным в линейке контроллеров 3U PXI.

03.03.2009 | 2235
Компания Agilent Technologies объявила о прорыве в сфере создания нелинейных моделей на основе X-параметров для компонентов, используемых в радиосвязи, аэрокосмической и оборонной промышленности Компания Agilent Technologies объявила о прорыве в сфере нелинейного моделирования таких компонентов, как усилители и транзисторы, широко применяемых в беспроводной связи, аэрокосмической и оборонной промышленности. X-параметры можно генерировать на основе моделей, созданных в САПР ADS, или по результатам измерений, выполненных с помощью контрольно-измерительных приборов компании Agilent, что позволяет ускорить разработку коммуникационного оборудования.

02.03.2009 | 2352
Новый анализатор цепей ZVL3-75 для трактов с волновым сопротивлением 75 Ом Компания Rohde & Schwarz разработала новую модель компактного векторного анализатора электрических цепей R&S ZVL3-75 в коаксиальном тракте типа N с волновым сопротивлением 75 Ом. Новый прибор нацелен в первую очередь на телевизионную промышленность и, обладая, как и предыдущие модели ZVL, возможностями анализатора спектра идеально подходит для использования при разработке, обслуживании и производстве вещательного оборудования.


Новости

22.05.2018
Научно-практический семинар «Оценивание неопределенности измерений в испытательных и калибровочных лабораториях»
20.05.2018
Научно-практический семинар «Метрологическое обеспечение измерительных систем»
19.05.2018
Семинар «Метрологическое обеспечение производства. Системы менеджмента измерений. Поверка, верификация и валидация средств измерений»
18.05.2018
Переход к новому уровню системы измерений – тема Всемирного дня метрологии в 2018 году
16.05.2018
Научно-практический семинар «Калибровка средств измерений в соответствии с требованиями стандарта ГОСТ Р ИСО/МЭК 17025-2009»
15.05.2018
Специалисты УНИИМ выступили с докладами на рабочих группах МБМВ
13.05.2018
Международный семинар «Математическая, статистическая и компьютерная поддержка качества измерений»
12.05.2018
IX Международный симпозиум «Метрология времени и пространства»
11.05.2018
Семинар «Измерения радиационных и физических факторов риска в составе аккредитованной лаборатории»
10.05.2018
Курс повышения квалификации по программе «Поверка и калибровка средств теплотехнических измерений (давления, температуры, расхода)»

Технические регламенты

03.02.2018
Технический регламент "Об ограничении применения опасных веществ в изделиях электротехники и радиоэлектроники" (ТР ЕАЭС 037/2016)
12.12.2017
Технический регламент «Требования к сжиженным углеводородным газам для использования их в качестве топлива» (ТР ЕАЭС 036/2016)
14.02.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений содержания компонентов в газовых средах"
10.01.2016
Вступил в силу новый межгосударственный стандарт на термины и определения в области измерений времени и частоты
03.01.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений угла фазового сдвига между двумя электрическими сигналами в диапазоне частот от 0,1 МГц до 65 ГГц"
26.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz в диапазоне от 0,001 до 3000 мкм и Ra в диапазоне от 0,001 до 750 мкм
19.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений силы
17.10.2015
Новые ГОСТы, устанавливающие требования ЭМС
10.10.2015
Новый ГОСТ Р Государственная поверочная схема для средств измерений электрической добротности
01.09.2015
Теперь все однозначно! Установлены стандартные требования к методикам калибровки СИ

Новости сайта

Свежий номер
№ 2 Апрель 2018
КИПиС 2018 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
Выставки