English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(473)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(67)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новости

04.03.2009 | 2460
Частотный диапазон серии анализаторов спектра серии FSV расширен до 30 ГГц Компания Rohde & Schwarz выпустила две новые модели анализаторов спектра серии FSV, предназначенные для сверхвысокочастотных приложений. Модели FSV13 и FSV30 имеют частотный диапазон от 9 кГц до 13,6 ГГц/30 ГГц с возможностью расширения частоты вниз до 20 Гц. Новые приборы обладают всеми преимуществами, реализованными в низкочастотных FSV3/7.

04.03.2009 | 2394
Уникальное разрешение цифровых преобразователей временных интервалов компании Agilent Technologies позволяет выполнять прецизионные измерения временных соотношений Компания Agilent Technologies объявила о расширении линейки цифровых преобразователей временных интервалов (TDC) Acqiris U1050A. Теперь эта линейка включает новую модель, предлагающую сверхвысокое разрешение по времени, превращая TDC в идеальный инструмент для прецизионных измерений времени в связи, ядерных исследованиях и оборонных приложениях.

03.03.2009 | 2367
Опция уменьшения фазовых шумов вблизи несущей для генераторов SMF100A Теперь генераторы СВЧ серии Rohde & Schwarz SMF100A могут быть оснащены опцией SMF-B22, при этом в состав опции сразу же включается опорный генератор повышенной стабильности SMF-B1. Данная опция уменьшает фазовые шумы прибора вблизи несущей при отстройках менее 1 кГц в среднем на 8 дБ относительно базовой модели.

03.03.2009 | 2408
Компания National Instruments выпустила первый промышленный контроллер PXI на базе четырехядерного процессора Компания National Instruments анонсировала выпуск встраиваемого контроллера NI PXI–8110. Новый контроллер представляет собой первый промышленный встраиваемый четырехядерный контроллер для платформ PXI в корпусе формата 3U. Благодаря использованию четырехядерного процессора Intel® Core™ 2 Q9100 с тактовой частотой 2.26 ГГц, наличию блока оперативной памяти типа DDR2 объемом 4 ГБ, работающей на частоте 800 МГц, а также высокопроизводительного жесткого диска, со скоростью вращения 7200 об./мин. данный контроллер можно по праву считать самым производительным в линейке контроллеров 3U PXI.

03.03.2009 | 2287
Компания Agilent Technologies объявила о прорыве в сфере создания нелинейных моделей на основе X-параметров для компонентов, используемых в радиосвязи, аэрокосмической и оборонной промышленности Компания Agilent Technologies объявила о прорыве в сфере нелинейного моделирования таких компонентов, как усилители и транзисторы, широко применяемых в беспроводной связи, аэрокосмической и оборонной промышленности. X-параметры можно генерировать на основе моделей, созданных в САПР ADS, или по результатам измерений, выполненных с помощью контрольно-измерительных приборов компании Agilent, что позволяет ускорить разработку коммуникационного оборудования.

02.03.2009 | 2427
Новый анализатор цепей ZVL3-75 для трактов с волновым сопротивлением 75 Ом Компания Rohde & Schwarz разработала новую модель компактного векторного анализатора электрических цепей R&S ZVL3-75 в коаксиальном тракте типа N с волновым сопротивлением 75 Ом. Новый прибор нацелен в первую очередь на телевизионную промышленность и, обладая, как и предыдущие модели ZVL, возможностями анализатора спектра идеально подходит для использования при разработке, обслуживании и производстве вещательного оборудования.

02.03.2009 | 3134
Новые инструменты для отладки программного обеспечения, созданного в LabVIEW Компания National Instruments анонсировала выпуск специализированных тулкитов NI LabVIEW Unit Test Framework и LabVIEW Desktop Execution Trace, представляющие собой новые средства для разработки и отладки программного обеспечения в среде LabVIEW.

02.03.2009 | 2289
Новое ПО коррекции последовательных данных компании Agilent Technologies позволяет тестировать скоростные последовательные шины с помощью осциллографов Компания Agilent Technologies объявила о выпуске программного обеспечения для коррекции последовательных данных, работающего с осциллографами серии Infiniium 90000A. Это ПО идеально подходит для тестирования устройств, использующих технологии скоростной последовательной передачи данных, такие как PCI Express(r) 3.0, USB 3.0, SATA 6 Гбит/с и SAS 6 Гбит/с. Оно обладает средствами коррекции для выполнения анализа в реальном масштабе времени, что помогает инженерам существенно снизить ошибки при приеме сигнала.

27.02.2009 | 2064
Компания Agilent Technologies представила первые в мире автономные LXI дигитайзеры высокого разрешения Компания Agilent Technologies представила первые в мире автономные дигитайзеры высокого разрешения с интерфейсорм LXI, предназначенные для разработчиков и инженеров-технологов. Эти дигитайзеры просто незаменимы в ситуациях, где цифровые мультиметры оказываются недостаточно быстрыми или осциллографы не могут обеспечить необходимого разрешения для анализа осциллограмм. 2-канальный дигитайзер L4532A и 4-канальный дигитайзер L4534A компании Agilent – это новые высокопроизводительные, автономные дигитайзеры с интерфейсом LXI, обладающие частотой дискретизации до 20 Мвыб./с с разрешением 16 бит. Они представляют собой новую категорию дигитайзеров с надежным входным каналом, высокопроизводительным аналого-цифровым преобразователем и широким набором измерительных функций.

26.02.2009 | 3478
Компания Agilent Technologies представила первый в отрасли анализатор силовых полупроводниковых приборов с функцией характериографа Компания Agilent Technologies представила первый в отрасли анализатор силовых приборов/характериограф B1505A, способный измерять характеристики полупроводниковых приборов с рабочим напряжением до 3000 В и током до 20 А.


Новости

16.10.2018
На заседании в Екатеринбурге обсуждены вопросы повышения достоверности результатов лабораторных измерений в СНГ
15.10.2018
ВНИИМ им. Д. И. Менделеева отметил 100-летие отечественной метрологии ионизирующих излучений
14.10.2018
Совместное обращение президента ИСО, президента МЭК и генерального секретаря МСЭ в связи со Всемирным днем стандартов 2018
13.10.2018
Всероссийская конференция «Измерения. Испытания. Контроль»
11.10.2018
Екатеринбург принял 3-ю Международную конференцию «Стандартные образцы в измерениях и технологиях»
10.10.2018
Российские и германские метрологи одобрили «цифровое» сотрудничество по Программе PTB и ведущих научно-исследовательских институтов Росстандарта
08.10.2018
В Казахстане состоялся XVI Азиатский Конгресс Качества ANQ 2018
06.10.2018
Научно-практический семинар «Внутренний аудитор лаборатории на соответствие стандарту ISO/IEC 17025:2017»
04.10.2018
IХ Форум дистрибьюторов электронных компонентов
30.09.2018
Обучение по программе повышения квалификации «Актуальная документация по подготовке испытательных лабораторий к аккредитации и проведению процедуры подтверждения компетентности»

Технические регламенты

31.08.2018
ТР "О безопасности оборудования, работающего под избыточным давлением". Порядок подтверждения соответствия
28.07.2018
Разъяснение Росаккредитации о применении переменных символов в сертификатах соответствия и декларациях о соответствии
03.02.2018
Технический регламент "Об ограничении применения опасных веществ в изделиях электротехники и радиоэлектроники" (ТР ЕАЭС 037/2016)
12.12.2017
Технический регламент «Требования к сжиженным углеводородным газам для использования их в качестве топлива» (ТР ЕАЭС 036/2016)
14.02.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений содержания компонентов в газовых средах"
10.01.2016
Вступил в силу новый межгосударственный стандарт на термины и определения в области измерений времени и частоты
03.01.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений угла фазового сдвига между двумя электрическими сигналами в диапазоне частот от 0,1 МГц до 65 ГГц"
26.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz в диапазоне от 0,001 до 3000 мкм и Ra в диапазоне от 0,001 до 750 мкм
19.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений силы
17.10.2015
Новые ГОСТы, устанавливающие требования ЭМС

Новости сайта

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ
Выставки