English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(476)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(546)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(69)
Новости Rohde & Schwarz(437)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(85)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Новости

04.05.2008 | 5472
NI LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition 2.5 теперь поддерживает новые осциллографы Tektronix DPO3000 компания National Instruments объявила о поддержке новых недорогих осциллографов Tektronix последней версией программного обеспечения LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition. Напомним, что LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition – это программный пакет для интерактивных измерений на базе ПК, который позволяет быстро собирать, обрабатывать данные и представлять результаты, совершенно не прибегая к процедурам программирования. Используя LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition 2.5, вы можете управлять осциллографами недорогой линейки Tekronix, включающую новые цифровые люминесцентные осциллографы Tektronix DPO3000 и TDS3000C, а также осциллографы для смешанных сигналов MSO4000, со своего компьютера с помощью простой в использовании среды.

04.05.2008 | 2466
С 22 по 24 апреля 2008 года в деловом центре Кимберли-Лэнд прошел ежегодный семинар компании Agilent Technologies. Это ставшее уже традиционным мероприятие посетили более 250 специалистов из ведущих научно-исследовательских центров, конструкторских бюро, ВУЗов. Традиционно высокий интерес к семинару проявили представители государственных структур и специалисты из оборонной и аэрокосмической отраслей, а на сессию, посвященную контрольно-измерительному оборудованию для телекоммуникационной отрасли, своих представителей направили все ведущие операторы мобильной и проводной связи.

03.05.2008 | 5055
Теперь NI LabVIEW поддерживает ведущие в отрасли микроконтроллеры ARM в качестве целевой платформы компании National Instruments и ARM объявили о выходе нового модуля LabVIEW для ARM-микроконтроллеров NI LabVIEW Embedded Module for ARM Microcontrollers, который является расширением платформы графического программирования LabVIEW и позволяет использовать в качестве целевых платформ следующие семейства микроконтроллеров: ARM 7™, ARM 9™ и Cortex™-M3. Представленный модуль – первый плод сотрудничества компаний, он позволяет использовать LabVIEW для программирования высокопроизводительных ARM-микроконтроллеров.

30.04.2008 | 2527
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске решения для внутрисхемного тестирования (ICT) устройств с ограниченным доступом, позволяющего обойтись без физических контрольных точек и обладающего преимуществами, которые не может предложить традиционный метод тестирования VTEP. Являясь частью расширенного тестового комплекта Agilent’s VTEP v2.0, технология расширенного покрытия Agilent Cover-Extend представляет собой комбинацию двух методов тестирования, широко применяющихся в электронной промышленности: периферийное сканирование (Boundary Scan) и безвекторное тестирование VTEP.

29.04.2008 | 2724
На прошедшем в Японии мероприятии DisplayPort PlugTest компания Agilent Technologies продемонстрировала первое полностью автоматическое решение для проверки совместимости на физическом уровне приемников DisplayPort, удовлетворяющее требованиям спецификаций тестирования совместимости DisplayPort. В феврале решение для тестирования источников DisplayPort от компании Agilent было одобрено в качестве первого решения для проверки совместимости источников VESA DisplayPort.

29.04.2008 | 2627
На выставке CTIA Wireless 2008, проходившей в Лас-Вегасе, компании Agilent Technologies и NextWave Wireless, глобальные поставщики мобильных мультимедийных решений и широкополосных беспроводных технологий, объявили о том, что NextWave будет использовать измерительное решение компании Agilent для беспроводных сетей для ускорения внедрения устройств Mobile WiMAX на основе чипсетов NextWave.

28.04.2008 | 2405
Новинка! Токовые клещи-ваттметр АТК-2209 Актаком В семействе токовых клещей АКТАКОМ появилась новая модель! Этот многофункциональный прибор позволяет измерять значение активной, реактивной и полной мощности в трех- и четырехпроводных трехфазных цепях, трехфазных цепях с симметричной нагрузкой, двух- и трехпроводных однофазных цепях...

25.04.2008 | 3898
Суперновинка от компании Rigol – новая серия осциллографов серии DS1000B На 11-ой международной выставке электронных компонентов и технологического оборудования «ЭкспоЭлектроника 2008», прошедшей в Москве с 15 по 18 апреля 2008 года, компания Rigol представила новую серию осциллографов DS1000B.

25.04.2008 | 6014
Измеритель сопротивления изоляции Компания METREL, один из ведущих мировых производителей и поставщиков высококачественных электрических контрольно-измерительных приборов, представила прибор для тестирования изоляции высоким напряжением MI 3200. Тераомметр MI 3200 имеет максимальное испытательное напряжение до 10000 В постоянного тока и диапазон сопротивлений до 10 ТОм.

23.04.2008 | 3516
Компания Rigol приняла участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» С 15 по 18 апреля 2008 года в Москве прошла 11-я международная выставка электронных компонентов и технологического оборудования «ЭкспоЭлектроника 2008». Ежегодная выставка «ЭкспоЭлектроника» давно зарекомендовала себя крупнейшей тематической выставкой подобного рода в России, на которой представляется продукция, поставляемая и производимая самыми известными мировыми производителями. В этом году компания Rigol приняла участие в этой выставке, представляя экспозицию на собственном стенде.


Новости

20.11.2018
Росаккредитация совместно с Росстандартом провела семинар для экспертов по аккредитации в области обеспечения единства измерений
19.11.2018
Килограмм превратился из гири в формулу
18.11.2018
Курс повышения квалификации «Испытания металлов – современные методы и измерительное оборудование»
17.11.2018
Семинар «Соответствие критериям аккредитации национального органа по аккредитации и новой версии международного стандарта ИСО/МЭК 17025. Изменения в законодательстве и подзаконных актах»
14.11.2018
На 26-й Генеральной конференции по мерам и весам будет принято решение об обновлении международной метрической системы на основе единиц SI. Интервью с руководителем Росстандарта Абрамовым А.В.
13.11.2018
Росаккредитация присоединилась к Международному форуму по аккредитации IAF
11.11.2018
Курс повышения квалификации «Проектирование КИПиА, ПАЗ, РСУ для промышленных предприятий. Автоматизация технологических процессов и производств»
10.11.2018
XIV Международная научно-практическая конференция «Электронные средства и системы управления»
09.11.2018
Росаккредитация и Национальный институт аккредитации проведут V Всероссийский съезд экспертов по аккредитации
08.11.2018
Научно-практический информационно-консультационный семинар «Метрологическое обеспечение учета газа, нефти и нефтепродуктов»

Технические регламенты

31.08.2018
ТР "О безопасности оборудования, работающего под избыточным давлением". Порядок подтверждения соответствия
28.07.2018
Разъяснение Росаккредитации о применении переменных символов в сертификатах соответствия и декларациях о соответствии
03.02.2018
Технический регламент "Об ограничении применения опасных веществ в изделиях электротехники и радиоэлектроники" (ТР ЕАЭС 037/2016)
12.12.2017
Технический регламент «Требования к сжиженным углеводородным газам для использования их в качестве топлива» (ТР ЕАЭС 036/2016)
14.02.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений содержания компонентов в газовых средах"
10.01.2016
Вступил в силу новый межгосударственный стандарт на термины и определения в области измерений времени и частоты
03.01.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений угла фазового сдвига между двумя электрическими сигналами в диапазоне частот от 0,1 МГц до 65 ГГц"
26.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz в диапазоне от 0,001 до 3000 мкм и Ra в диапазоне от 0,001 до 750 мкм
19.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений силы
17.10.2015
Новые ГОСТы, устанавливающие требования ЭМС

Новости сайта

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
Выставки