English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(483)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(562)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(263)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(458)
Новости Tektronix(194)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(129)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Новости

08.11.2007 | 2745
Новый универсальный частотомер Компания Pendulum Instruments (Швеция) выпустила новый частотомер CNT-91, который является дальнейшим развитием линейки мощных и универсальных частотомеров CNT-90. В стандартной комплектации прибор обеспечивает измерения частоты, периода и промежутков времени, фазы, амплитуды, скважности, длительности и времени нарастания фронтов импульсов.

08.11.2007 | 2987
Новый мультиметр KEITHLEY В ряду высокопроизводительных профессиональных цифровых мультиметров компании Keithley (США) появилась новая модель — 6½-разрядный мультиметр DMM2100 с USB интерфейсом. Как сообщается, это первый в своем классе настольный мультиметр, цена которого на рынке США не превышает 1000 долларов.

01.11.2007 | 3118
PXI приборы National Instruments со скоростью записи до 600 МБ/с Новейшие PXI приборы National Instruments позволяют обрабатывать потоковые данные с недостижимой ранее скоростью на стандартных промышленных платформах тестирования и управления. Семейство новых приборов на основе технологии PXI Express включает в себя модульный прибор, встроенный контроллер и RAID массив жестких дисков для записи и чтения со скоростью до 600 МБ/с. С такими возможностями потоковой обработки данных приложения сбора и генерации данных выходят на гораздо более высокий уровень, уменьшается время тестирования и позволяют решить более сложные задачи.

28.09.2007 | 3188
Микроволновое измерительное оборудование высшего класса от Rohde & Schwarz В этом году, на 10-й Европейской микроволновой неделе, которая пройдет с 8 по 12 октября в Мюнхене, компания Rohde & Schwarz (Германия) планирует продемонстрировать множество новинок...

27.09.2007 | 3025
Портативные USB датчики мощности Новые портативные датчики мощности серии U2000, разработанные компанией Agilent Technologies (США), представляют законченное экономичное решение, существенно упрощающее процесс измерения мощности, особенно в полевых условиях. Датчики серии U2000 не требуют использования специализированных измерителей мощности — с помощью USB-кабеля они могут непосредственно подключаться к персональному компьютеру или любому другому прибору Agilent: генератору сигналов, анализатору спектра (включая портативные), анализатору цепей и т. д., что расширяет возможности этих приборов по точному измерению мощности.

25.09.2007 | 2976
Новая серия мультиметров FLUKE В спектре продукции компании Fluke (США) появилась новая серия ручных цифровых мультиметров — Fluke-280, в которую входят 2 модели: 287 и 289. Новые приборы имеют жидкокристаллический дисплей с графической матрицей 320x240 (¼ VGA), с разрядностью 50000, индикатором реального времени и даты и быстродействующей аналоговой графической шкалой, позволяющей отслеживать динамику быстрых процессов. На дисплее может одновременно отображаться нескольких измеряемых величин, что обеспечивает быстрое получение необходимой информации.

17.09.2007 | 3950
Новые анализаторы последовательных потоков данных компании Tektronix дополняют испытательную систему PCI Express 2.0

Компания Tektronix, Inc. (NYSE: TEK), ведущий поставщик контрольно-измерительного оборудования и оборудования для тестирования, объявила о выпуске новых анализаторов последовательных потоков данных TLA7S16 и TLA7S08, предназначенных для тестирования и проверки конструкций с шинами PCI Express (PCIe) 1.0 и 2.0. В отличие от анализаторов протоколов конкурирующих производителей, новые анализаторы последовательных потоков данных компании Tektronix наряду с выполнением матричного анализа предоставляют подробные сведения о протоколе PCIe 2.0. Эти анализаторы дополняют наиболее полную в отрасли испытательную систему шин PCIe и способствуют разработке высокоскоростных вычислительных платформ следующего поколения.

12.09.2007 | 2831
21-22 августа в Москве состоялся семинар компании Fluke (США), который она провела для своих российских дистрибьюторов. В ходе семинара была представлена новая торговая и маркетинговая политика компании в России. Компания Fluke планирует активное расширение рынка для своей продукции и ориентируется на значительный рост продаж в ближайшее время — до 7% ежегодно в течение ближайших 3-5 лет.

10.09.2007 | 2962

В конце августа успешно завершились испытания для целей утверждения типа средств измерения широкой номенклатуры новых приборов и модификации прежних серий измерительного оборудования известной американской компании Tektronix. По результатам испытаний принято решение об утверждении типов средств измерений, их государственной регистрации и выданы соответствующие сертификаты.

03.09.2007 | 3811
LabVIEW 8.5 позволяет инженерам и ученым задействовать всю мощь многоядерных процессоров Компания National Instruments представила LabVIEW 8.5, новейшую версию среды графической разработки систем тестирования, управления и программирования встроенных систем. Благодаря почти десятилетним инвестированиям в технологии многопоточных вычислений и концепции параллельного потока данных, разработка приложений для многопроцессорных компьютеров и ПЛИС систем стала в LabVIEW 8.5 еще проще.


Новости

21.04.2019
Всероссийская научно-техническая конференция «Антенны и Распространение радиоволн 2019» (АРР'2019)
20.04.2019
Поверка и калибровка средств измерений функциональной диагностики (радиоэлектронных СИМН)
17.04.2019
Специалисты ЦАГИ разработали преобразователь давлений повышенной точности
16.04.2019
Медоборудование поверили с помощью «искусственных органов»
14.04.2019
IV Международная научно-техническая конференция «Метрология физико-химических измерений»
13.04.2019
Обучение по программе «Методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов»
12.04.2019
Конференция для профессионалов в области инженерной инфраструктуры и эксплуатации ЦОДов
10.04.2019
Обучение по программе «Поверка и калибровка средств механических измерений»
09.04.2019
Научно-практический информационно-консультационный семинар «Метрологическое обеспечение учета газа, нефти и нефтепродуктов»
08.04.2019
Молодые ученые ВНИИФТРИ представили свои научные разработки на конференции «Метрология в ХХI веке»

Технические регламенты

31.08.2018
ТР "О безопасности оборудования, работающего под избыточным давлением". Порядок подтверждения соответствия
28.07.2018
Разъяснение Росаккредитации о применении переменных символов в сертификатах соответствия и декларациях о соответствии
03.02.2018
Технический регламент "Об ограничении применения опасных веществ в изделиях электротехники и радиоэлектроники" (ТР ЕАЭС 037/2016)
12.12.2017
Технический регламент «Требования к сжиженным углеводородным газам для использования их в качестве топлива» (ТР ЕАЭС 036/2016)
14.02.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений содержания компонентов в газовых средах"
10.01.2016
Вступил в силу новый межгосударственный стандарт на термины и определения в области измерений времени и частоты
03.01.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений угла фазового сдвига между двумя электрическими сигналами в диапазоне частот от 0,1 МГц до 65 ГГц"
26.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz в диапазоне от 0,001 до 3000 мкм и Ra в диапазоне от 0,001 до 750 мкм
19.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений силы
17.10.2015
Новые ГОСТы, устанавливающие требования ЭМС

Новости сайта

Свежий номер
№ 2 Апрель 2019
КИПиС 2019 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
Выставки