English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(471)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(540)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(64)
Новости Rohde & Schwarz(430)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(81)
Новости Росстандарта(117)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новости

11.08.2008 | 2212
Анализатор питания постоянного тока компании Agilent Technologies завоевал дополнительные призы Компания Agilent Technologies объявила о том, что ее Анализатор питания постоянного тока N6705A завоевал пять дополнительных призов, общее число которых, с момента представления продукта в мае 2007 года, достигло семи. Эти призы присуждаются ведущими отраслевыми журналами за существенный вклад в развитие рынка, внесенный продуктом или услугой.

05.08.2008 | 2510
Компания Agilent Technologies представила самое надежное решение по тестированию каналов связи в соответствии со стандартом OBSAI Компания Agilent Technologies объявила о выпуске полного решения для тестирования каналов связи в соответствии со стандартом OBSAI (Инициатива открытой архитектуры базовых станций).

04.08.2008 | 2867
Компания National Instruments представляет цифровой PXI-осциллограф c полосой пропускания 1 ГГц Новый модуль обладает улучшенными рабочими характеристиками для широкополосных измерений в приложениях автоматизированных тестовых испытаний.

25.07.2008 | 2908
Источники-измерители Keithley серии 2600 Источники-измерители KEITHLEY серии 2600 были разработаны, как комбинированные приборы, сочетающие в себе источники питания и тока в комплексе с измерительными приборами, которые возможно использовать для быстрого и легкого снятия ВАХ.

25.07.2008 | 3791
NI представляет высокопроизводительные контроллеры Compact FieldPoint В июне 2008 года компания National Instruments объявила о выпуске трех новых контроллеров Compact FieldPoint, которые обладают увеличенной производительностью, высокой скоростью обработки данных и увеличенной пропускной способностью Ethernet-интерфейса.

25.07.2008 | 2544
Новый анализатор сигналов от Rohde & Schwarz В июле 2008 г. дебютировал на рынке новый прибор от Rohde & Schwarz — R&S FSV, как самый быстрый и точный на сегодняшний день анализатор сигналов среднего класса. Он практически по всем параметрам превосходит приборы своего класса.

25.07.2008 | 2800
Pendulum Instruments расширяет ассортимент своей продукции В июле 2008 года в Стокгольме компания Pendulum Instruments, входящая в Orolia Group, объявила о расширении ассортимента своей продукции двумя новыми разработками — PicoTime™ и PicoReference™.

24.07.2008 | 2483
Agilent Technologies представила первое в отрасли решение, позволяющее выполнять многофункциональные измерения через один порт На выставке NXTcomm 2008, проходившей в Лас-Вегасе, компания Agilent Technologies представила первое в отрасли тестовое решение для сетей MultiPlay, обеспечивающее высокопроизводительную аппаратную обработку и статистический анализ сервисов по одновременной передаче видео, голоса и данных по единому интерфейсу и на полной скорости сети.

23.07.2008 | 2444
Новые блоки управления аттенюаторами Agilent Technologies помогают тестировать устройства WiMAX™ и WLAN Компания Agilent Technologies объявила о выходе новых интегрированных блоков управления аттенюаторами, работающими в полосе от постоянного тока до 6, 18 или 26,5 ГГц.

04.07.2008 | 3426
NI представляет новую версию платформы для изучения схемотехники, электротехники и электроники Компания National Instruments объявила о выходе новой версии платформы для изучения схемотехники и электротехники NI ELVIS II, которая широко используется во всем мире для практикумов и лабораторных работ. Созданная на базе мощной среды графического программирования LabVIEW, платформа NI ELVIS дает возможность преподавателям не только использовать 12 различных инструментов через обыкновенное USB-подключение, но и обеспечивает полную интеграцию со средой SPICE-моделирования Multisim 10.1, значительным образом упрощая процесс обучения схемотехники.


Новости

17.09.2018
Итоги VI Международной метрологической конференции «Актуальные вопросы метрологического обеспечения измерений расхода и количества жидкостей и газов»
16.09.2018
Семинар «Практические подходы к применению положений международного стандарта ISO/IEC 17025:2017 «Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий»
15.09.2018
Международный форум «Микроэлектроника 2018»
14.09.2018
К 100-летию перехода России на международную метрическую систему
13.09.2018
ВНИИМ им. Менделеева поможет измерить уровень загрязнения в промышленных выбросах
09.09.2018
Семинар «Метрологическое обеспечение производства. Современное состояние работ по обеспечению единства измерений»
08.09.2018
Научно-практический семинар «Метрологическое обеспечение измерительных систем»
07.09.2018
УНИИМ примет девятое заседание РГ МСИ НТКМетр
02.09.2018
Научно-практический семинар «Оценивание неопределенности измерений в испытательных и калибровочных лабораториях, аккредитованных на соответствие стандарту ГОСТ ИСО/МЭК 17025-2009»
01.09.2018
ГПС для СИ параметров отклонения от плоскостности оптических поверхностей размером до 200 мм

Технические регламенты

31.08.2018
ТР "О безопасности оборудования, работающего под избыточным давлением". Порядок подтверждения соответствия
28.07.2018
Разъяснение Росаккредитации о применении переменных символов в сертификатах соответствия и декларациях о соответствии
03.02.2018
Технический регламент "Об ограничении применения опасных веществ в изделиях электротехники и радиоэлектроники" (ТР ЕАЭС 037/2016)
12.12.2017
Технический регламент «Требования к сжиженным углеводородным газам для использования их в качестве топлива» (ТР ЕАЭС 036/2016)
14.02.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений содержания компонентов в газовых средах"
10.01.2016
Вступил в силу новый межгосударственный стандарт на термины и определения в области измерений времени и частоты
03.01.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений угла фазового сдвига между двумя электрическими сигналами в диапазоне частот от 0,1 МГц до 65 ГГц"
26.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz в диапазоне от 0,001 до 3000 мкм и Ra в диапазоне от 0,001 до 750 мкм
19.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений силы
17.10.2015
Новые ГОСТы, устанавливающие требования ЭМС

Новости сайта

Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
Выставки