English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(471)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(540)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(64)
Новости Rohde & Schwarz(430)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(82)
Новости Росстандарта(117)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новости

20.05.2008 | 2463
Академический форум в рамках конференции NIWeek 2008 Вот уже более 5 лет компания National Instruments проводит активную деятельность в рамках своей Образовательной программы. 4 августа 2008 года в рамках международной конференции NIWeek 2008 в г. Остин (штат Техас) пройдет специальный академический форум (Academic Forum), который будет посвящен исключительно образовательной сфере и применению в ней самых современных измерительных и компьютерных технологий.

08.05.2008 | 2153
Новая серия столов АКТАКОМ с антистатической столешницей: невидимый «киллер» обезврежен! ESD-защищенная зона от АКТАКОМ - это, прежде всего, рабочий стол с антистатической столешницей высокого качества, соответствующего международному стандарту IEC 61340-5-1/2...

07.05.2008 | 2910
Обновление в линейке цифровых осциллографов Tektronix Поистине народная линейка цифровых осциллографов Tektronix TDS3000 пережила очередное обновление. Встречайте новую ее модификацию: осциллографы TDS3000C!

04.05.2008 | 5450
NI LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition 2.5 теперь поддерживает новые осциллографы Tektronix DPO3000 компания National Instruments объявила о поддержке новых недорогих осциллографов Tektronix последней версией программного обеспечения LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition. Напомним, что LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition – это программный пакет для интерактивных измерений на базе ПК, который позволяет быстро собирать, обрабатывать данные и представлять результаты, совершенно не прибегая к процедурам программирования. Используя LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition 2.5, вы можете управлять осциллографами недорогой линейки Tekronix, включающую новые цифровые люминесцентные осциллографы Tektronix DPO3000 и TDS3000C, а также осциллографы для смешанных сигналов MSO4000, со своего компьютера с помощью простой в использовании среды.

04.05.2008 | 2455
С 22 по 24 апреля 2008 года в деловом центре Кимберли-Лэнд прошел ежегодный семинар компании Agilent Technologies. Это ставшее уже традиционным мероприятие посетили более 250 специалистов из ведущих научно-исследовательских центров, конструкторских бюро, ВУЗов. Традиционно высокий интерес к семинару проявили представители государственных структур и специалисты из оборонной и аэрокосмической отраслей, а на сессию, посвященную контрольно-измерительному оборудованию для телекоммуникационной отрасли, своих представителей направили все ведущие операторы мобильной и проводной связи.

03.05.2008 | 5021
Теперь NI LabVIEW поддерживает ведущие в отрасли микроконтроллеры ARM в качестве целевой платформы компании National Instruments и ARM объявили о выходе нового модуля LabVIEW для ARM-микроконтроллеров NI LabVIEW Embedded Module for ARM Microcontrollers, который является расширением платформы графического программирования LabVIEW и позволяет использовать в качестве целевых платформ следующие семейства микроконтроллеров: ARM 7™, ARM 9™ и Cortex™-M3. Представленный модуль – первый плод сотрудничества компаний, он позволяет использовать LabVIEW для программирования высокопроизводительных ARM-микроконтроллеров.

30.04.2008 | 2502
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске решения для внутрисхемного тестирования (ICT) устройств с ограниченным доступом, позволяющего обойтись без физических контрольных точек и обладающего преимуществами, которые не может предложить традиционный метод тестирования VTEP. Являясь частью расширенного тестового комплекта Agilent’s VTEP v2.0, технология расширенного покрытия Agilent Cover-Extend представляет собой комбинацию двух методов тестирования, широко применяющихся в электронной промышленности: периферийное сканирование (Boundary Scan) и безвекторное тестирование VTEP.

29.04.2008 | 2703
На прошедшем в Японии мероприятии DisplayPort PlugTest компания Agilent Technologies продемонстрировала первое полностью автоматическое решение для проверки совместимости на физическом уровне приемников DisplayPort, удовлетворяющее требованиям спецификаций тестирования совместимости DisplayPort. В феврале решение для тестирования источников DisplayPort от компании Agilent было одобрено в качестве первого решения для проверки совместимости источников VESA DisplayPort.

29.04.2008 | 2607
На выставке CTIA Wireless 2008, проходившей в Лас-Вегасе, компании Agilent Technologies и NextWave Wireless, глобальные поставщики мобильных мультимедийных решений и широкополосных беспроводных технологий, объявили о том, что NextWave будет использовать измерительное решение компании Agilent для беспроводных сетей для ускорения внедрения устройств Mobile WiMAX на основе чипсетов NextWave.

28.04.2008 | 2381
Новинка! Токовые клещи-ваттметр АТК-2209 Актаком В семействе токовых клещей АКТАКОМ появилась новая модель! Этот многофункциональный прибор позволяет измерять значение активной, реактивной и полной мощности в трех- и четырехпроводных трехфазных цепях, трехфазных цепях с симметричной нагрузкой, двух- и трехпроводных однофазных цепях...


Новости

25.09.2018
Обучение по программе «Поверка и калибровка средств электрических измерений»
24.09.2018
Новое устройство-стенд ФГУП «УНИИМ» повысит точность измерений, важных во многих отраслях
23.09.2018
Курс повышения квалификации «ГОСТ ИСО/МЭК 17025-2009. Обеспечение компетентности испытательных лабораторий. Новая версия стандарта ИСО/МЭК 17025:2017 - основные отличия новой версии и порядок перехода»
17.09.2018
Итоги VI Международной метрологической конференции «Актуальные вопросы метрологического обеспечения измерений расхода и количества жидкостей и газов»
16.09.2018
Семинар «Практические подходы к применению положений международного стандарта ISO/IEC 17025:2017 «Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий»
15.09.2018
Международный форум «Микроэлектроника 2018»
14.09.2018
К 100-летию перехода России на международную метрическую систему
13.09.2018
ВНИИМ им. Менделеева поможет измерить уровень загрязнения в промышленных выбросах
09.09.2018
Семинар «Метрологическое обеспечение производства. Современное состояние работ по обеспечению единства измерений»
08.09.2018
Научно-практический семинар «Метрологическое обеспечение измерительных систем»

Технические регламенты

31.08.2018
ТР "О безопасности оборудования, работающего под избыточным давлением". Порядок подтверждения соответствия
28.07.2018
Разъяснение Росаккредитации о применении переменных символов в сертификатах соответствия и декларациях о соответствии
03.02.2018
Технический регламент "Об ограничении применения опасных веществ в изделиях электротехники и радиоэлектроники" (ТР ЕАЭС 037/2016)
12.12.2017
Технический регламент «Требования к сжиженным углеводородным газам для использования их в качестве топлива» (ТР ЕАЭС 036/2016)
14.02.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений содержания компонентов в газовых средах"
10.01.2016
Вступил в силу новый межгосударственный стандарт на термины и определения в области измерений времени и частоты
03.01.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений угла фазового сдвига между двумя электрическими сигналами в диапазоне частот от 0,1 МГц до 65 ГГц"
26.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz в диапазоне от 0,001 до 3000 мкм и Ra в диапазоне от 0,001 до 750 мкм
19.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений силы
17.10.2015
Новые ГОСТы, устанавливающие требования ЭМС

Новости сайта

Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
29.09.1901
День рождения
Выставки