English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(418)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(505)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(239)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(379)
Новости Tektronix(177)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(89)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости

04.06.2008 | 2638
Новые качественные мультиметры Fluke по выгодной цене В линейке мультиметров Fluke появились новые модели приборов. Новый, простой в применении цифровой мультиметр истинных среднеквадратичных значений предназначен для специалистов техобслуживания, линейных рабочих и электромонтеров для быстрой диагностики электрических проблем. Мультиметр Fluke 113 является быстрым и простым в настройке прибором.

30.05.2008 | 2123
Компания «Rohde & Schwarz» провела семинар, посвященный анализаторам спектра 29 мая 2008 года в южной аудитории физического факультета МГУ им. Ломоносова прошел семинар, который проводила компания Rohde & Schwarz для всех желающих. Темой дня был «анализ спектра и сигналов, оборудование и решения компании» в данной области. Семинар проводился с участием специалистов МГУ.

29.05.2008 | 2408
Новые индукционные паяльные станции АКТАКОМ профессионального уровня В линейке паяльных станций АКТАКОМ теперь появились и индукционные паяльные станции АТР-1121, АТР-1123...

29.05.2008 | 2461
Система тестирования беспроводных устройств Keithley побеждает в конкурсе «Лучший продукт» журнала Portable Design 20 мая 2008 года в Кливленде (Штат Огайо), компания Keithley Instruments, Inc., лидер на рынке измерений, победила в конкурсе «выбор редакции журнала Portable Design 2008» в категории Испытания и Измерения со своей 4X4 MIMO RF Test System.

20.05.2008 | 2152
Академический форум в рамках конференции NIWeek 2008 Вот уже более 5 лет компания National Instruments проводит активную деятельность в рамках своей Образовательной программы. 4 августа 2008 года в рамках международной конференции NIWeek 2008 в г. Остин (штат Техас) пройдет специальный академический форум (Academic Forum), который будет посвящен исключительно образовательной сфере и применению в ней самых современных измерительных и компьютерных технологий.

08.05.2008 | 1866
Новая серия столов АКТАКОМ с антистатической столешницей: невидимый «киллер» обезврежен! ESD-защищенная зона от АКТАКОМ - это, прежде всего, рабочий стол с антистатической столешницей высокого качества, соответствующего международному стандарту IEC 61340-5-1/2...

07.05.2008 | 2628
Обновление в линейке цифровых осциллографов Tektronix Поистине народная линейка цифровых осциллографов Tektronix TDS3000 пережила очередное обновление. Встречайте новую ее модификацию: осциллографы TDS3000C!

04.05.2008 | 5008
NI LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition 2.5 теперь поддерживает новые осциллографы Tektronix DPO3000 компания National Instruments объявила о поддержке новых недорогих осциллографов Tektronix последней версией программного обеспечения LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition. Напомним, что LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition – это программный пакет для интерактивных измерений на базе ПК, который позволяет быстро собирать, обрабатывать данные и представлять результаты, совершенно не прибегая к процедурам программирования. Используя LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition 2.5, вы можете управлять осциллографами недорогой линейки Tekronix, включающую новые цифровые люминесцентные осциллографы Tektronix DPO3000 и TDS3000C, а также осциллографы для смешанных сигналов MSO4000, со своего компьютера с помощью простой в использовании среды.

04.05.2008 | 2189
С 22 по 24 апреля 2008 года в деловом центре Кимберли-Лэнд прошел ежегодный семинар компании Agilent Technologies. Это ставшее уже традиционным мероприятие посетили более 250 специалистов из ведущих научно-исследовательских центров, конструкторских бюро, ВУЗов. Традиционно высокий интерес к семинару проявили представители государственных структур и специалисты из оборонной и аэрокосмической отраслей, а на сессию, посвященную контрольно-измерительному оборудованию для телекоммуникационной отрасли, своих представителей направили все ведущие операторы мобильной и проводной связи.

03.05.2008 | 4564
Теперь NI LabVIEW поддерживает ведущие в отрасли микроконтроллеры ARM в качестве целевой платформы компании National Instruments и ARM объявили о выходе нового модуля LabVIEW для ARM-микроконтроллеров NI LabVIEW Embedded Module for ARM Microcontrollers, который является расширением платформы графического программирования LabVIEW и позволяет использовать в качестве целевых платформ следующие семейства микроконтроллеров: ARM 7™, ARM 9™ и Cortex™-M3. Представленный модуль – первый плод сотрудничества компаний, он позволяет использовать LabVIEW для программирования высокопроизводительных ARM-микроконтроллеров.


Новости

16.08.2017
Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации отметил вклад специалистов ВНИИМС почетными наградами
15.08.2017
Всё о функциональных возможностях анализаторов спектра Rigol в журнале "КИПиС"
12.08.2017
Семинар «Оценка соответствия испытательных лабораторий критериям аккредитации»
11.08.2017
ВНИИМ им Д.И. Менделеева добился наивысшей точности в определении ДНК
10.08.2017
Росаккредитация и Китайская национальная служба по аккредитации в области оценки соответствия подписали Меморандум о взаимопонимании
09.08.2017
ВНИИМС и The Modal Shop достигли практических договоренностей
05.08.2017
ХII Международная конференция "НЕФТЕГАЗСТАНДАРТ – 2017: техническое регулирование, стандартизация, метрологическое обеспечение в нефтегазовой отрасли"
03.08.2017
В ФБУ «Краснодарский ЦСМ» наградили победителей краевого конкурса «Лучший метролог Кубани»
30.07.2017
О метрологическом сотрудничестве России и Венесуэлы
27.07.2017
Росаккредитация подтвердила компетентность ВНИИМС в сфере испытаний программных средств и информационных продуктов

Технические регламенты

14.02.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений содержания компонентов в газовых средах"
10.01.2016
Вступил в силу новый межгосударственный стандарт на термины и определения в области измерений времени и частоты
03.01.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений угла фазового сдвига между двумя электрическими сигналами в диапазоне частот от 0,1 МГц до 65 ГГц"
26.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz в диапазоне от 0,001 до 3000 мкм и Ra в диапазоне от 0,001 до 750 мкм
19.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений силы
17.10.2015
Новые ГОСТы, устанавливающие требования ЭМС
10.10.2015
Новый ГОСТ Р Государственная поверочная схема для средств измерений электрической добротности
01.09.2015
Теперь все однозначно! Установлены стандартные требования к методикам калибровки СИ
12.04.2015
Утверждены новые стандарты на аппаратуру ГЛОНАСС для коммерческих транспортных средств
04.07.2014
Регламент ЕС 1025/2012. Конференция в Росстандарте

Новости сайта

Свежий номер
№ 4 Август 2017
КИПиС 2017 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.08.1834
День рождения
Выставки