EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Аппаратурная реализация измерений эффективности экранирования помещений

В настоящее время все более актуальной становится задача настройки и испытаний радиотехнических и радиоэлектронных средств, а также проведение испытаний технических средств (ТС) на электромагнитную совместимость (ЭМС) в условиях, при которых исключается или ослабляется до допустимого уровня влияние внешних электромагнитных полей на результаты измерений параметров испытываемого средства. В ряде случаев возникает необходимость ослабления электромагнитных полей, создаваемых испытуемым средством. В обоих случаях необходимые условия создаются за счет использования экранированных камер (ЭК), которые представляют собой экранированное или имеющее металлические внутренние поверхности помещение, сконструированное специально для отделения внутренней электромагнитной обстановки от внешней. Также сходные ЭК применяются, например, для экранировки помещений, к которым предъявляются специальные требования по обеспечению режима безопасности и противодействию технической разведке.

При измерениях эффективности экранирования возникает проблема выбора измерительной аппаратуры, которая бы обеспечивала решение этой измерительной задачи для каждого из трех классов экранированных камер в зависимости от значений эффективности экранирования.

В статье подробно рассматриваются требования к измерительной аппаратуре, и предлагается решение данной измерительной задачи с помощью оборудования компании Rohde&Schwarz.


Автор(ы): Пивак А.В., Малай И.М., Просыпкин С.Е.
Номер журнала: КИПиС 2009 № 5
Читать в PDF: Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
16.04.1823
День рождения
Фердинанд Эйзенштейн
16.04.1909
День рождения создателя синтетических алмазов
Верещагин Леонид Фёдорович
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.