English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(419)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(505)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(240)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(379)
Новости Tektronix(177)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(89)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

КИПиС 2005 № 6

КИПиС 2005 № 6 Год: 2005
Номер: 6
Месяц: Декабрь
Тема номера: Новинки измерительной техники
Содержание
Официальная хроника, новости от Agilent Technologies, Keithley, AKTAKOM
Конкурс «Лучший отечественный измерительный прибор-2005»
Радикальность проекта нового закона ничем не обоснована (Крутиков В.Н.)
Проект нового федерального закона «Об обеспечении единства измерений»: плюсы и минусы
Новости из Ростехрегулирования
Неделя National Instruments-2005 (Афонская Т.Д., Афонский А.А.)
Измерительная техника в Европе сегодня (Обзор выставки «Productronica-2005») (Афонская Т.Д., Афонский А.А.)
Портативный измеритель частоты и мощности MFР-8000 (Бельчиков А.В., Геращенко С.В., Давыдов Л.Ю.)
LabVIEW в USB-лаборатории
Основные тенденции развития модульных измерительных систем (Зайченко С.Н., Маленков А.А.)
Применение мостовых приборов при поиске неисправностей в кабельных линях связи (Усов Ю.А., Баталин М.Ю.)
Выставка «Силовая Электроника-2005» (Уткин А.Ю.)
Выставка «СибСвязь-2005» (Обзор)

Назад в раздел
Свежий номер
№ 4 Август 2017
КИПиС 2017 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.08.1834
День рождения