English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(402)
Новости Anritsu(94)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(497)
Новости Metrel(5)
Новости National Instruments(231)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(55)
Новости Rohde & Schwarz(368)
Новости Tektronix(174)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(66)
Новости Росстандарта(82)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

КИПиС 2008 № 6

КИПиС 2008 № 6 Год: 2008
Номер: 6
Месяц: Декабрь
Тема номера: Новинки измерительной техники
Содержание
Новости от АКТАКОМ, Agilent Technologies, Fluke, Anritsu Company, Rohde & Schwarz, Pendulum Instruments
Обзор выставки Электроника-2008
Особенности новых виртуальных осциллографов АКТАКОМ с LAN-интерфейсом
Agilent Technologies продолжает развиваться, несмотря на кризис. Интервью с вице-президентом департамента осциллографов компании Agilent Technologies Скоттом Самплом (Scott Sampl, VP & GM DTD Oscilloscope)
На все существующие стандарты у Rohde&Schwarz есть свои решения. Интервью со специалистом по связям с общественностью и прессой компании Rohde&Schwarz GmbH & Co Патрицей Мюхлбауер (Patrizia Muehlbauer, Press and PR)
Keithley Instruments: «Наши преимущества — простота использования и высокая скорость измерений». Интервью с директором европейского направления Keithley Instruments, Inc., Клаусом Лейтбехером (Klaus Leutbecher, Europe Director of Keithley)
Программное выделение тактовой частоты в осциллографах реального времени
Метрология и медицина
Выставка «Aerospace Testing Russia» собрала 5000 специалистов

Назад в раздел
Свежий номер
№ 2 Апрель 2017
КИПиС 2017 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений