English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(419)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(505)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(240)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(379)
Новости Tektronix(177)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(89)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

КИПиС 2008 № 3

КИПиС 2008 № 3 Год: 2008
Номер: 3
Месяц: Июнь
Тема номера: Метрология
Содержание
Новости от АКТАКОМ, Agilent Technologies, Rohde & Schwarz, National Instruments, Tektronix
Конкурс «Лучший отечественный измерительный прибор-2008»
Новости из Ростехрегулирования
Новые эталоны Российской Федерации. Интервью начальника Управления метрологии Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии В.М. Лахова журналу «Контрольно-измерительные приборы и системы»
Олимпийские игры невозможны без измерений
Калибраторы серии КС — переносная поверочная лаборатория, удовлетворяющая требованиям ГОСТ Р 8.624-2006
Математическая теория измерительных задач
Tektronix уделит больше внимания российскому рынку. Интервью Вице-президента по маркетингу компании Tektronix г-на Мартина Этерингтона (Martyn Etherington)
Новые осциллографы Tektronix DPO3000
Преимущества технологии IR-Fusion™
Удобное программное обеспечение упрощает измерение электромагнитных помех

Назад в раздел
Свежий номер
№ 4 Август 2017
КИПиС 2017 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.08.1834
День рождения