English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(509)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(77)
Новости Keysight Technologies(586)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(487)
Новости Tektronix(198)
Новости Texas Instruments(19)
Новости Yokogawa(89)
Новости Росстандарта(134)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

КИПиС 2008 № 3

КИПиС 2008 № 3
Год: 2008
Номер: 3
Месяц: Июнь
Тема номера: Метрология
Содержание
Новости от АКТАКОМ, Agilent Technologies, Rohde & Schwarz, National Instruments, Tektronix
Конкурс «Лучший отечественный измерительный прибор-2008»
Новости из Ростехрегулирования
Новые эталоны Российской Федерации. Интервью начальника Управления метрологии Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии В.М. Лахова журналу «Контрольно-измерительные приборы и системы»
Олимпийские игры невозможны без измерений
Калибраторы серии КС — переносная поверочная лаборатория, удовлетворяющая требованиям ГОСТ Р 8.624-2006
Математическая теория измерительных задач
Tektronix уделит больше внимания российскому рынку. Интервью Вице-президента по маркетингу компании Tektronix г-на Мартина Этерингтона (Martyn Etherington)
Новые осциллографы Tektronix DPO3000
Преимущества технологии IR-Fusion™
Удобное программное обеспечение упрощает измерение электромагнитных помех

Назад в раздел
Свежий номер
№ 5 Октябрь 2019
КИПиС 2019 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
06.12.1778
Родился французский физик и химик