English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(514)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(592)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(490)
Новости Tektronix(199)
Новости Texas Instruments(19)
Новости Yokogawa(89)
Новости Росстандарта(135)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

КИПиС 2009 № 3

КИПиС 2009 № 3
Год: 2009
Номер: 3
Месяц: Июнь
Тема номера: Метрология
На обложке: Галина Смирнова, глава московского представительства компании Agilent Technologies и Салим Одэ, вице-президент компании Agilent Technologies (www.agilent.ru)
Содержание
Новости от АКТАКОМ, Tektronix, National Instruments, Rohde&Schwarz
«Всемирный День Метрологии 2009». Измерения в торговле
Государственная служба мер и весов России от менделеевской реформы до наших дней
Роль метрологии в условиях кризиса
Точность рождает качество
Москва. ВВЦ. Метрология-2009
Компания Agilent Technologies будет лидировать на российском рынке! Интервью г-на Салима Одэ (Saleem Odeh), вице-президента компании Agilent Technologies
Средства конфигурирования сетевых параметров измерительных приборов
Применение математического аппарата вейвлет-преобразования в средствах измерения качества электрической энергии — новые возможности анализа состояния электрической сети
R&S®FSH4 / FSH8: портативные анализаторы спектра следующего поколения
Метрология учит системному подходу, анализу
Выставка «ЭкспоЭлектроника 2009» превзошла ожидания самих участников

Назад в раздел
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2019
КИПиС 2019 № 6
Тема номера:
Новинки измерительной техники
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.01.1775
день рождения