English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(471)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(540)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(64)
Новости Rohde & Schwarz(431)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(82)
Новости Росстандарта(117)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

КИПиС 2009 № 3

КИПиС 2009 № 3 Год: 2009
Номер: 3
Месяц: Июнь
Тема номера: Метрология
На обложке: Галина Смирнова, глава московского представительства компании Agilent Technologies и Салим Одэ, вице-президент компании Agilent Technologies (www.agilent.ru)
Содержание
Новости от АКТАКОМ, Tektronix, National Instruments, Rohde&Schwarz
«Всемирный День Метрологии 2009». Измерения в торговле
Государственная служба мер и весов России от менделеевской реформы до наших дней
Роль метрологии в условиях кризиса
Точность рождает качество
Москва. ВВЦ. Метрология-2009
Компания Agilent Technologies будет лидировать на российском рынке! Интервью г-на Салима Одэ (Saleem Odeh), вице-президента компании Agilent Technologies
Средства конфигурирования сетевых параметров измерительных приборов
Применение математического аппарата вейвлет-преобразования в средствах измерения качества электрической энергии — новые возможности анализа состояния электрической сети
R&S®FSH4 / FSH8: портативные анализаторы спектра следующего поколения
Метрология учит системному подходу, анализу
Выставка «ЭкспоЭлектроника 2009» превзошла ожидания самих участников

Назад в раздел
Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
29.09.1901
День рождения