English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(488)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(567)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(466)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Зеленкова Е.Г.


Книги этого автора



Статьи этого автора


Обзор выставки «РАДЭЛ-2007»

Номер журнала: КИПиС 2008 № 1

С 20 по 23 ноября 2007 года в Петербургском Спортивно-Концертном комплексе проходил Международный промышленный Форум «Радиоэлектроника. Приборостроение. Автоматизация», в рамках которого состоялись крупнейшие на Северо-Западе специализированные выставки «Радиоэлектроника и приборостроение» и «Автоматизация». С каждым годом развиваясь, выставки привлекают все больше профессионалов и специалистов отрасли.

 
Обзор выставки «Беспроводные и Мобильные Технологии»

Номер журнала: КИПиС 2008 № 1

С 27 по 29 ноября 2007 года в Москве, в ЦМТ прошло ключевое событие для руководителей и технических специалистов в области передовых информационных, коммуникационных, компьютерных и радиоэлектронных технологий — 3-я Международная выставка и конференция «Беспроводные и Мобильные Технологии 2007». Организатор — выставочная компания ООО «Инконэкс», представитель ТПП города Москвы. Официальная поддержка: Федеральное агентство по промышленности, ТПП РФ Комитет по промышленному развитию, МДО «Наука и высокие технологии».

 
Обзор выставки "Aerospace Testing Russia-2006"

Номер журнала: КИПиС 2006 № 5

С 20 по 22 сентября 2006 года в Спорткомплексе «Олимпийский» прошла 3-я Международная выставка испытательного оборудования, систем и технологий авиационно-космической промышленности «Aerospace Testing Russia-2006».

 

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений