English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(506)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(77)
Новости Keysight Technologies(583)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(484)
Новости Tektronix(198)
Новости Texas Instruments(19)
Новости Yokogawa(88)
Новости Росстандарта(134)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Афонская Т.Д.

Афонская Т.Д.

Книги этого автора



Статьи этого автора


Самая разнообразная, самая современная измерительная техника (Обзор выставки "Electronica-2006”)

Номер журнала: КИПиС 2006 № 6

По традиции, как и 10 лет назад, в декабрьском номере журнала мы публикуем обзор выставки «Electronica», которая проходит каждые два года в городе Мюнхен, Германия. За эти 10 лет, конечно, многое уже изменилось. Появились новые материалы и технологии, и сама выставка претерпела изменения.

 
Неделя National Instruments-2006

Номер журнала: КИПиС 2006 № 5

С 8 по 10 августа 2006 года в г. Остин (США), где располагается головной офис известной компании National Instruments (www.ni.com), проходила 12-я ежегодная всемирная конференция по виртуальным инструментам NI Week-2006.

 

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2019
КИПиС 2019 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
17.11.1790
День рождения