English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(519)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(597)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(494)
Новости Tektronix(200)
Новости Texas Instruments(20)
Новости Yokogawa(90)
Новости Росстандарта(136)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Афонская Т.Д.

Афонская Т.Д.

Книги этого автора



Статьи этого автора


Обзор выставки «Беспроводные и Мобильные Технологии»

Номер журнала: КИПиС 2008 № 1

С 27 по 29 ноября 2007 года в Москве, в ЦМТ прошло ключевое событие для руководителей и технических специалистов в области передовых информационных, коммуникационных, компьютерных и радиоэлектронных технологий — 3-я Международная выставка и конференция «Беспроводные и Мобильные Технологии 2007». Организатор — выставочная компания ООО «Инконэкс», представитель ТПП города Москвы. Официальная поддержка: Федеральное агентство по промышленности, ТПП РФ Комитет по промышленному развитию, МДО «Наука и высокие технологии».

 
Для Tektronix прошедший финансовый год был очень хорошим во многих отношениях
Для Tektronix прошедший финансовый год был очень хорошим во многих отношениях

Номер журнала: КИПиС 2007 № 4

 
«Гордимся прошлым и учителями, надеемся на будущее и учеников»

Номер журнала: КИПиС 2007 № 3

В этом году у российской метрологии два славных юбилея — 165-летие со дня организации первого государственного метрологического учреждения — Депо образцовых мер и весов — и 15-летие со дня основания Метрологической Академии РФ. В этой связи 22 мая в Санкт-Петербурге состоялась юбилейная конференция, посвященная этим важным для всех метрологов датам и приуроченная к Всемирному дню метрологии.

 
Самая разнообразная, самая современная измерительная техника (Обзор выставки "Electronica-2006”)

Номер журнала: КИПиС 2006 № 6

По традиции, как и 10 лет назад, в декабрьском номере журнала мы публикуем обзор выставки «Electronica», которая проходит каждые два года в городе Мюнхен, Германия. За эти 10 лет, конечно, многое уже изменилось. Появились новые материалы и технологии, и сама выставка претерпела изменения.

 
Неделя National Instruments-2006

Номер журнала: КИПиС 2006 № 5

С 8 по 10 августа 2006 года в г. Остин (США), где располагается головной офис известной компании National Instruments (www.ni.com), проходила 12-я ежегодная всемирная конференция по виртуальным инструментам NI Week-2006.

 

Свежий номер
№ 1 Февраль 2020
КИПиС 2020 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала