English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(509)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(77)
Новости Keysight Technologies(586)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(487)
Новости Tektronix(198)
Новости Texas Instruments(19)
Новости Yokogawa(89)
Новости Росстандарта(134)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Афонская Т.Д.

Афонская Т.Д.

Книги этого автора



Статьи этого автора


Выставка лабораторного оборудования Pittcon-2012

Номер журнала: КИПиС 2012 № 2

Pittcon это крупнейшая ежегодная международная конференция-выставка, посвящённая аналитической химии и прикладной спектроскопии. Количество посетителей выставки-конференции составило более 17,000 человек, которых приветствовали 941 экспонентов на 1,850 выставочных стендах. Насыщенная программа мероприятия этого года включала демонстрацию новейших разработок и устройств, многогранную техническую программу, представленную более чем 2000 презентациями, многочисленные краткие курсы повышения квалификации и встречи, позволяющие поделиться инновационными идеями с учёными со всего мира. Выставку посетили многочисленные сотрудники академий и государственных учреждений из 90 стран мира, специалисты, непосредственно работающие над распознанием, определением и анализом химических и биологических веществ и молекул. Участники выставки представляли собой самые различные слои промышленности, выставка Pittcon охватыватила всевозможные научные направления: фармакологию, организацию контроля качества воды и воздуха, безопасности продуктов питания, экологические предприятия по борьбе с биотерроризмом. В этом году мероприятие проходило 11-15 марта в Orange County Convention Center, Орландо, Флорида, США.

 
Потребительский рай в Лас Вегасе. Обзор выставки CES

Номер журнала: КИПиС 2012 № 1

 
Tektronix в Китае

Номер журнала: КИПиС 2011 № 6

В середине октября 2011, пользуясь любезным приглашением Мартина Этерингтона (Martyn Etherington), Вице-президента по маркетингу компании Тектроникс, мы имели возможность посетить фабрику Tektronix в Шанхае. Там мы встретились с Рональдом Дангом (Ronald Dung, Technical Marketing Manager Greater China), Барри Хоу (Barry Hou, Director, Plant Operations). Барри Хоу, директор производства показал нам фабрику. Эта экскурсия дала возможность лучше узнать методы производства одних из самых широкоизвестных приборов в мире.

 
Выбирайте лучшее. Мы ценим ваш выбор. Интервью с Бенуа Нил и Джимом Арментруа, Agilent Technologies
Выбирайте лучшее. Мы ценим ваш выбор. Интервью с Бенуа Нил и Джимом Арментруа, Agilent Technologies

Номер журнала: КИПиС 2011 № 6

4 и 5 октября 2011 в Праге состоялся ежегодный пресс-тур компании Agilent Technologies. На это мероприятие были приглашены 33 редактора специализированных технических изданий из 15 различных стран. Редакторы журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» традиционно принимают участие в этом важном для рынка измерительной техники мероприятии. В программу пресс-тура входило знакомство с новинками приборостроения и новыми технологиями, разработанными компанией, презентации по ключевым моментам развития компании, а также интервью с руководителями и ведущими специалистами компании.

 
50-летний юбилей национальной метрологической системы США

Номер журнала: КИПиС 2011 № 5

21-25 августа 2011 в Вашингтоне (Gaylord National Convention Center, National Harbor, MD, США) прошел международный симпозиум метрологов, который собрал более 2000 человек. Девиз симпозиума «50 лет: Размышляя о прошлом — смотрим в будущее». Обзор данного мероприятия также включает небольшое интервью Виктора Саприцкого, доктора технических наук, профессора, руководителя лаборатории фотометрии ВНИИОФИ.

 

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2019
КИПиС 2019 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
06.12.1778
Родился французский физик и химик