English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Ами Тели (Ami Teli)


Книги этого автора



Статьи этого автора


Использование встроенных процессоров сценариев и встроенного программного обеспечения в контрольно-измерительных приборах — важная тенденция последнего десятилетия

Номер журнала: КИПиС 2013 № 3

Последнее десятилетие характеризуется увеличением потребительского спроса на электронику с расширенной функциональностью — от смартфонов до планшетных компьютеров. Это вызывает проблемы при тестировании комплектующих как для компаний-изготовителей подобной электроники, так и для изготовителей самих комплектующих. А поскольку смена моделей электронных устройств теперь происходит значительно быстрее, то для измерения их характеристик и тестирования требуются новые алгоритмы или процедуры. Часто это означает, что измерительные приборы, использовавшиеся для снятия ВАХ в прошлом году, в этом году могут оказаться уже непригодными. Ответом на эти непрерывные изменения стал ряд новых тенденций, направленных на создание измерительных приборов, способных быстро адаптироваться к вновь разрабатываемым процедурам испытаний.

 

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений