English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(453)
Новости Anritsu(99)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(72)
Новости Keysight Technologies(530)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(255)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(60)
Новости Rohde & Schwarz(414)
Новости Tektronix(189)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(78)
Новости Росстандарта(105)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Джим Курран (Jim Curran)


Книги этого автора



Статьи этого автора


Продление срока службы систем тестирования для поддержки долговременных программ

Номер журнала: КИПиС 2015 № 5

При запуске производства каждого нового изделия тратится огромное количество времени, сил и средств на выбор и интеграцию соответствующей системы тестирования. Эта система используется для проверки новых изделий, гарантируя их функционирование в соответствии с предъявляемыми требованиями, и для поддержания высокого уровня качества. Кроме того, предполагается, что система тестирования прослужит в течение всего срока реализации программы выпуска изделий. Правильно спроектированные системы тестирования помогают гарантировать высокое качество и максимальную пропускную способность.

 

Свежий номер
№ 2 Апрель 2018
КИПиС 2018 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.05.1783
Родился британский физик, электротехник и изобретатель