English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(474)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(258)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Акихико Огинума (Akihiko Oginuma)


Книги этого автора



Статьи этого автора


Ускорение процесса тестирования за счет анализа джиттера задающего генератора в частотной области

Номер журнала: КИПиС 2008 № 4

В данной статье рассматривается роль задающего генератора и влияние джиттера задающего генератора на джиттер данных, и обсуждаются новые методы измерений с помощью нового программного обеспечения для прецизионного анализа джиттера задающего генератора Agilent E5001A, работающего на анализаторе источников сигнала E5052B. Обсуждаются также возможности измерений в реальном времени, ускоряющие процессы тестирования.

 

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.10.1905
День рождения