English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(403)
Новости Anritsu(94)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(497)
Новости Metrel(5)
Новости National Instruments(231)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(55)
Новости Rohde & Schwarz(368)
Новости Tektronix(174)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(66)
Новости Росстандарта(82)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Лапшина Т.В.


Книги этого автора



Статьи этого автора


"РАДЭЛ-2006" как отражение конъюнктуры рынка электроники и приборостроения

Номер журнала: КИПиС 2007 № 1

С 14 по 17 ноября 2006 г. в Санкт-Петербурге проходила крупнейшая в Северо-Западном регионе России VI промышленная специализированная выставка «Радиоэлектроника и приборостроение» («РАДЭЛ»).

 
Обзор выставки «MERATEK-2006»

Номер журнала: КИПиС 2006 № 3

С 16 по 19 мая 2006 года в Москве, в СК «Олимпийский», проходила 7-я Международная выставка MERATEK-2006 «Измерительные приборы и автоматизация». Выставка стала хорошей площадкой для общения деловых кругов, своеобразным индикатором эффективности развития российского приборостроения и расширения международных связей.

 

Свежий номер
№ 2 Апрель 2017
КИПиС 2017 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала