English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(474)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(258)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Джейк Харнак (Jake Harnack)

Менеджер отдела модульных приборов, National Instruments

Книги этого автора



Статьи этого автора


Системы параллельного тестирования надежности кристаллов на пластине (WLR) с модулями источника-измерителя сигнала (SMU)

Номер журнала: КИПиС 2016 № 6

Системы испытания надежности кристаллов на пластине (WLR) используются на производстве уже в течение многих десятилетий, и различаются по измерительным возможностям и архитектуре. Специализированные системы WLR могут использовать высокочастотный переменный ток или импульсные сигналы. Тем не менее, для тестирования большинства полупроводниковых устройств применяются приборы постоянного тока, такие как источник-измеритель SMU, которые формируют необходимое напряжение и способны осуществлять измерения и сбор данных о параметрах.

 

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
23.10.1844
Родился один из изобретателей радио, французский физик и инженер