English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(402)
Новости Anritsu(94)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(497)
Новости Metrel(5)
Новости National Instruments(231)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(55)
Новости Rohde & Schwarz(368)
Новости Tektronix(174)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(66)
Новости Росстандарта(82)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Коптева Н.А.


Книги этого автора



Статьи этого автора


NIWeek 2010 — эффективность инноваций с инструментами проектирования National Instruments

Номер журнала: КИПиС 2010 № 5

Завершилась 16-я Международная конференция систем графического проектирования NIWeek 2010, которая ежегодно проводится компанией National Instruments. Конференция и выставка состоялись с 3 по 5 августа 2010 г. в выставочном центре Austin Convention Center (г.Остин, штат Техас, США). Из краткого обзора Вы сможете узнать об основных темах докладов и наиболее выдающихся разработках и технологиях, представленных в рамках мероприятия. В этом году NIWeek посетили более 3000 специалистов.

 
10-летие российской торговой марки АКТАКОМ

Номер журнала: КИПиС 2010 № 4

3 июня 2010 года состоялось торжественное событие, посвященное знаменательной дате — юбилею известной российской торговой марки АКТАКОМ. Уже 10 лет продукция под этой торговой маркой занимает уверенные позиции на российском рынке контрольно-измерительного оборудования.

 
Метрология-2010. Мост к инновациям

Номер журнала: КИПиС 2010 № 3

В статье приведен краткий обзор двух наиболее важных для метрологов мероприятий: 6-ой Международной выставки-конкурса средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования «Метрология-2010» и 2-го Московского Международного симпозиума метрологов, посвященных Всемирному Дню метрологии.

 
Международная конференция «Техрегулирование 2012. Инструментарий формирования единого экономического пространства»

Номер журнала: КИПиС 2010 № 2

25 марта 2010 года в Академии народного хозяйства при Правительстве Российской Федерации состоялась Международная конференция «Техрегулирование 2012. Инструментарий формирования единого экономического пространства». Цель проведения конференции — содействие формированию Единого экономического пространства Республики Беларусь, Республики Казахстан и Российской Федерации, а также обмен опытом в интеграционных процессах по созданию общего экономического пространства в Европейском Союзе.

 

Свежий номер
№ 2 Апрель 2017
КИПиС 2017 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений