English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(449)
Новости Anritsu(98)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(526)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(254)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(60)
Новости Rohde & Schwarz(409)
Новости Tektronix(189)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(76)
Новости Росстандарта(102)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Деннис Уеллер (Dennis Weller)

Agilent Technologies

Книги этого автора



Статьи этого автора


Тестирование компонентов с помощью осциллографа со встроенным генератором сигналов

Номер журнала: КИПиС 2011 № 2

В данной статье описаны методы тестирования компонентов с помощью осциллографа и генератора сигналов. Показана методика тестирования конденсаторов, индуктивностей, диодов, биполярных транзисторов и кабелей. Кроме того, описанные методы можно использовать для поиска неисправных компонентов или определения номиналов немаркированных компонентов.

 

Свежий номер
№ 2 Апрель 2018
КИПиС 2018 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.04.1904
Родился создатель одного из первых электромеханических вычислительных устройств