English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(410)
Новости Anritsu(94)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(498)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(236)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(375)
Новости Tektronix(176)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(67)
Новости Росстандарта(86)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Афонская Т.Д.

Афонская Т.Д.

Книги этого автора



Статьи этого автора


Выставка CES — ваш проводник в мире передовых технологий!

Номер журнала: КИПиС 2017 № 1

C 5 по 8 января наступившего 2017 года в США, штате Невада, прошла крупнейшая международная выставка CES. В период её работы Лас-Вегас превратился в центр современных технологий, инноваций и решений, способных по-настоящему удивить даже самых убеждённых скептиков. 2017 год особенно примечателен для CES — в этом году выставка отметила полувековой юбилей, ровно 50 лет!

 
Гонконг 2016 — мировой центр электроники!

Номер журнала: КИПиС 2016 № 6

Гонконг — это не только один из самых красивых городов планеты, это крупнейшая рыночная площадка электронной продукции, используемой в самых разных промышленных областях. В этом октябре, как обычно, прошло сразу несколько масштабных международных выставок. Общая цель мероприятий — продемонстрировать новейшие достижения в сфере электронных разработок.

 
12-й Московский международный инновационный форум и выставка «Точные измерения — основа качества и безопасности»

Номер журнала: КИПиС 2016 № 3

Как известно, 20 мая отмечается Всемирный День Метрологии! В преддверии этого профессионального праздника, на территории ВДНХ, традиционно проходит Московский международный инновационный форум и выставка «Точные измерения — основа качества и безопасности». И, этот год не стал исключением. С 17 по 19 мая форум прошёл уже в 12-й по счёту раз. Форум «Точные измерения — основа качества и безопасности» — это масштабная международная коммуникационная платформа для встречи специалистов и любителей, представителей федеральных органов исполнительной власти, науки и бизнеса, другими словами — всех, кто заинтересован в развитии современного приборостроения и высокоточных измерений.

 
Новинки на выставках ЭлектронТехЭкспо и ЭкспоЭлектроника 2016

Номер журнала: КИПиС 2016 № 2

С 15 по 17 марта этого года в московском международном выставочном центре «Крокус Экспо» параллельно прошли сразу две крупных выставки: 14-я Международная выставка технологий, оборудования и материалов для производства изделий электронной и электротехнической промышленности — ЭлектронТехЭкспо, а также 19-я Международная выставка электронных компонентов, модулей и комплектующих — ЭкспоЭлектроника. Вместе — это уникальные не только для России, но и для всей восточной Европы выставочные мероприятия с 100% профессиональной и самой масштабной аудиторией.

 
Будущее начинается сегодня! Международная выставка CES 2016

Номер журнала: КИПиС 2016 № 1

С 6 по 9 января уже наступившего 2016 г. в Лас-Вегасе, США, штат Невада, прошла одна из крупнейших выставок потребительской электроники — CES 2016! Выставка проходит ежегодно и всегда удивляет посетителей своим размахом, обилием демонстрируемых технологий, разработок и количеством круглых столов и сессий, которые проходят ежедневно. Статистические данные шоу этого года по-настоящему шокируют! Так, в выставке приняло участие более 3800 экспонентов, которые демонстрировали свыше 20000 разработок на выставочной площади в 750 тыс. кв. м. Количество посетителей перешло за 170000, около 50000 из них приехали из-за рубежа специально, чтобы посетить CES.

 

Свежий номер
№ 3 Июнь 2017
КИПиС 2017 № 3
Тема номера:
Новинки измерительной техники
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть