English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(443)
Новости Anritsu(98)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(523)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(251)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(399)
Новости Tektronix(186)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(73)
Новости Росстандарта(98)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Такуя Хирато (Takuya Hirato)


Книги этого автора



Статьи этого автора


Решение задач многопортового векторного анализа цепей и одновременного тестирования нескольких устройств

Номер журнала: КИПиС 2017 № 5

Для минимизации стоимости тестирования в условиях массового производства компонентов требуется тестировать больше устройств за меньшее время. Инженеры принимают разнообразные меры по сокращению времени тестирования, автоматизируя контрольно-измерительные системы. Увеличение скорости тестирования становится более проблематичным по мере роста числа портов и расширения функциональности выпускаемых устройств…

 

Свежий номер
№ 1 Февраль 2018
КИПиС 2018 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.02.1857
день рождения