English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(410)
Новости Anritsu(94)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(498)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(236)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(375)
Новости Tektronix(176)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(67)
Новости Росстандарта(86)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Бернард Шульц (Bernhard Schulz)


Книги этого автора



Статьи этого автора


Тестирование устройств USB 2.0 с помощью цифровых осциллографов R&S®RTO

Номер журнала: КИПиС 2014 № 3

Протокол USB является одним из наиболее распространенных. Он предполагает три режима работы, отличающиеся скоростями передачи данных, составляющими 1,5, 12 или 480 Мбит/с. Для каждой скорости передачи установлены собственные испытания, совокупность которых обеспечивает качественный обмен данными между взаимодействующими устройствами. Для USB 2.0 разделяют тесты для режимов приема и передачи. В настоящей работе кратко рассматривается тест по маске передатчика USB 2.0 и показывается способ его выполнения с помощью осциллографов R&S RTO.

 

Свежий номер
№ 3 Июнь 2017
КИПиС 2017 № 3
Тема номера:
Новинки измерительной техники
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть