English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(403)
Новости Anritsu(94)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(497)
Новости Metrel(5)
Новости National Instruments(231)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(55)
Новости Rohde & Schwarz(368)
Новости Tektronix(174)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(66)
Новости Росстандарта(82)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Гуидо Шульце (Guido Schulze)


Книги этого автора



Статьи этого автора


Тестирование устройств USB 2.0 с помощью цифровых осциллографов R&S®RTO

Номер журнала: КИПиС 2014 № 3

Протокол USB является одним из наиболее распространенных. Он предполагает три режима работы, отличающиеся скоростями передачи данных, составляющими 1,5, 12 или 480 Мбит/с. Для каждой скорости передачи установлены собственные испытания, совокупность которых обеспечивает качественный обмен данными между взаимодействующими устройствами. Для USB 2.0 разделяют тесты для режимов приема и передачи. В настоящей работе кратко рассматривается тест по маске передатчика USB 2.0 и показывается способ его выполнения с помощью осциллографов R&S RTO.

 

Свежий номер
№ 2 Апрель 2017
КИПиС 2017 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала