English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(488)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(568)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(466)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Профилограф-профилометр "Абрис ПМ7.2"

Профилограф-профилометр «Абрис ПМ7.2», разработанный специалистами ООО «Абрис» (г. Пенза), предназначен для измерения шероховатости поверхности деталей машин в производственных и лабораторных условиях. В его состав входит профилометр «Абрис-ПМ7», к которому подключен персональный компьютер. Прибор измеряет все параметры шероховатости, предусмотренные ГОСТ, т. е. Ra, Rz, Rmax, Sm, S, tp. Результаты измерения отображаются на экране компьютера и могут быть выведены на печать. Программное обеспечение включает программу поверки, а так же статистическую обработку результатов измерения. Сто последних результатов измерений сохраняется в памяти компьютера.

www.abris.sura.ru




Назад в раздел
Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть