English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(393)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(71)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Комплекс «Тестер-Э»

Предприятием ФГУП НИИР (г. Москва) разработан и серийно выпускается комплекс ТЭСТЕР-Э, предназначенный для измерений и контроля качества сигнала систем эфирного и кабельного телевизионного вещания и аппаратно-студийных комплексов телевизионных центров, а также для настройки, ремонта и поверки ТВ аппаратуры.

ТЭСТЕР-Э обеспечивает автоматические измерения и двухуровневый допусковый контроль:

  • основных параметров сигналов изображения и звукового сопровождения;
  • частотных характеристик каналов изображения и звукового сопровождения;
  • нелинейных свойств каналов изображения и звукового сопровождения;
  • перекрестных искажений в составляющих сигналов изображения и звукового сопровождения;
  • не взвешенных и взвешенных флуктуационных помех;
  • синусоидальных и фоновых помех;
  • комплексной оценки качества передачи сигналов изображения.

В состав комплекса ТЭСТЕР-Э входят:

  • измерительный комплект КИ-ТВ, включающий в себя аудиоанализатор АК-1 и видеоанализатор ВК-2;
  • преобразователь радиосигнала (измерительный приемник);
  • плата видеозахвата изображения для визуального контроля сигнала;
  • системный блок компьютера в промышленном исполнении.

Комплекс изготавливается в стационарном, носимом и мобильном вариантах. Вес комплекса в стационарном варианте — около 30 кг.

www.niir.ru




Назад в раздел
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии