English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(473)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новости

04.05.2008 | 2460
С 22 по 24 апреля 2008 года в деловом центре Кимберли-Лэнд прошел ежегодный семинар компании Agilent Technologies. Это ставшее уже традиционным мероприятие посетили более 250 специалистов из ведущих научно-исследовательских центров, конструкторских бюро, ВУЗов. Традиционно высокий интерес к семинару проявили представители государственных структур и специалисты из оборонной и аэрокосмической отраслей, а на сессию, посвященную контрольно-измерительному оборудованию для телекоммуникационной отрасли, своих представителей направили все ведущие операторы мобильной и проводной связи.

03.05.2008 | 5039
Теперь NI LabVIEW поддерживает ведущие в отрасли микроконтроллеры ARM в качестве целевой платформы компании National Instruments и ARM объявили о выходе нового модуля LabVIEW для ARM-микроконтроллеров NI LabVIEW Embedded Module for ARM Microcontrollers, который является расширением платформы графического программирования LabVIEW и позволяет использовать в качестве целевых платформ следующие семейства микроконтроллеров: ARM 7™, ARM 9™ и Cortex™-M3. Представленный модуль – первый плод сотрудничества компаний, он позволяет использовать LabVIEW для программирования высокопроизводительных ARM-микроконтроллеров.

30.04.2008 | 2512
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске решения для внутрисхемного тестирования (ICT) устройств с ограниченным доступом, позволяющего обойтись без физических контрольных точек и обладающего преимуществами, которые не может предложить традиционный метод тестирования VTEP. Являясь частью расширенного тестового комплекта Agilent’s VTEP v2.0, технология расширенного покрытия Agilent Cover-Extend представляет собой комбинацию двух методов тестирования, широко применяющихся в электронной промышленности: периферийное сканирование (Boundary Scan) и безвекторное тестирование VTEP.

29.04.2008 | 2710
На прошедшем в Японии мероприятии DisplayPort PlugTest компания Agilent Technologies продемонстрировала первое полностью автоматическое решение для проверки совместимости на физическом уровне приемников DisplayPort, удовлетворяющее требованиям спецификаций тестирования совместимости DisplayPort. В феврале решение для тестирования источников DisplayPort от компании Agilent было одобрено в качестве первого решения для проверки совместимости источников VESA DisplayPort.

29.04.2008 | 2612
На выставке CTIA Wireless 2008, проходившей в Лас-Вегасе, компании Agilent Technologies и NextWave Wireless, глобальные поставщики мобильных мультимедийных решений и широкополосных беспроводных технологий, объявили о том, что NextWave будет использовать измерительное решение компании Agilent для беспроводных сетей для ускорения внедрения устройств Mobile WiMAX на основе чипсетов NextWave.

28.04.2008 | 2393
Новинка! Токовые клещи-ваттметр АТК-2209 Актаком В семействе токовых клещей АКТАКОМ появилась новая модель! Этот многофункциональный прибор позволяет измерять значение активной, реактивной и полной мощности в трех- и четырехпроводных трехфазных цепях, трехфазных цепях с симметричной нагрузкой, двух- и трехпроводных однофазных цепях...

25.04.2008 | 3887
Суперновинка от компании Rigol – новая серия осциллографов серии DS1000B На 11-ой международной выставке электронных компонентов и технологического оборудования «ЭкспоЭлектроника 2008», прошедшей в Москве с 15 по 18 апреля 2008 года, компания Rigol представила новую серию осциллографов DS1000B.

25.04.2008 | 5998
Измеритель сопротивления изоляции Компания METREL, один из ведущих мировых производителей и поставщиков высококачественных электрических контрольно-измерительных приборов, представила прибор для тестирования изоляции высоким напряжением MI 3200. Тераомметр MI 3200 имеет максимальное испытательное напряжение до 10000 В постоянного тока и диапазон сопротивлений до 10 ТОм.

23.04.2008 | 3504
Компания Rigol приняла участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» С 15 по 18 апреля 2008 года в Москве прошла 11-я международная выставка электронных компонентов и технологического оборудования «ЭкспоЭлектроника 2008». Ежегодная выставка «ЭкспоЭлектроника» давно зарекомендовала себя крупнейшей тематической выставкой подобного рода в России, на которой представляется продукция, поставляемая и производимая самыми известными мировыми производителями. В этом году компания Rigol приняла участие в этой выставке, представляя экспозицию на собственном стенде.

23.04.2008 | 3063
Tektronix представила новую серию цифровых осциллографов — DPO3000 Компания Tektronix представила новую серию цифровых осциллографов — DPO3000 — уникальное сочетание выдающихся технических параметров и доступных цен. DPO3000 оснащены больщим цветным экраном, самыми современными решениями и технологиями: Wave Inspector, TekVPI, DPO, USBTMC, декодирование и синхронизация по шинам I²C, SPI, RS-232/422/485/UART, CAN, LIN и HDTV, память 5 МБ на каждый канал в стандартной комплектации.


Новости

18.10.2018
ВНИИМ им. Д.И. Менделеева и Президентская библиотека стали информационными партнерами
17.10.2018
Биотехнологии – среди приоритетов национальной стандартизации
16.10.2018
На заседании в Екатеринбурге обсуждены вопросы повышения достоверности результатов лабораторных измерений в СНГ
15.10.2018
ВНИИМ им. Д. И. Менделеева отметил 100-летие отечественной метрологии ионизирующих излучений
14.10.2018
Совместное обращение президента ИСО, президента МЭК и генерального секретаря МСЭ в связи со Всемирным днем стандартов 2018
13.10.2018
Всероссийская конференция «Измерения. Испытания. Контроль»
11.10.2018
Екатеринбург принял 3-ю Международную конференцию «Стандартные образцы в измерениях и технологиях»
10.10.2018
Российские и германские метрологи одобрили «цифровое» сотрудничество по Программе PTB и ведущих научно-исследовательских институтов Росстандарта
08.10.2018
В Казахстане состоялся XVI Азиатский Конгресс Качества ANQ 2018
06.10.2018
Научно-практический семинар «Внутренний аудитор лаборатории на соответствие стандарту ISO/IEC 17025:2017»

Технические регламенты

31.08.2018
ТР "О безопасности оборудования, работающего под избыточным давлением". Порядок подтверждения соответствия
28.07.2018
Разъяснение Росаккредитации о применении переменных символов в сертификатах соответствия и декларациях о соответствии
03.02.2018
Технический регламент "Об ограничении применения опасных веществ в изделиях электротехники и радиоэлектроники" (ТР ЕАЭС 037/2016)
12.12.2017
Технический регламент «Требования к сжиженным углеводородным газам для использования их в качестве топлива» (ТР ЕАЭС 036/2016)
14.02.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений содержания компонентов в газовых средах"
10.01.2016
Вступил в силу новый межгосударственный стандарт на термины и определения в области измерений времени и частоты
03.01.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений угла фазового сдвига между двумя электрическими сигналами в диапазоне частот от 0,1 МГц до 65 ГГц"
26.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz в диапазоне от 0,001 до 3000 мкм и Ra в диапазоне от 0,001 до 750 мкм
19.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений силы
17.10.2015
Новые ГОСТы, устанавливающие требования ЭМС

Новости сайта

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ
Выставки