English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(509)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(77)
Новости Keysight Technologies(586)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(487)
Новости Tektronix(198)
Новости Texas Instruments(19)
Новости Yokogawa(89)
Новости Росстандарта(134)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Новости компаний

RSS

04.05.2008 | 2633
С 22 по 24 апреля 2008 года в деловом центре Кимберли-Лэнд прошел ежегодный семинар компании Agilent Technologies. Это ставшее уже традиционным мероприятие посетили более 250 специалистов из ведущих научно-исследовательских центров, конструкторских бюро, ВУЗов. Традиционно высокий интерес к семинару проявили представители государственных структур и специалисты из оборонной и аэрокосмической отраслей, а на сессию, посвященную контрольно-измерительному оборудованию для телекоммуникационной отрасли, своих представителей направили все ведущие операторы мобильной и проводной связи.

03.05.2008 | 5312
Теперь NI LabVIEW поддерживает ведущие в отрасли микроконтроллеры ARM в качестве целевой платформы компании National Instruments и ARM объявили о выходе нового модуля LabVIEW для ARM-микроконтроллеров NI LabVIEW Embedded Module for ARM Microcontrollers, который является расширением платформы графического программирования LabVIEW и позволяет использовать в качестве целевых платформ следующие семейства микроконтроллеров: ARM 7™, ARM 9™ и Cortex™-M3. Представленный модуль – первый плод сотрудничества компаний, он позволяет использовать LabVIEW для программирования высокопроизводительных ARM-микроконтроллеров.

30.04.2008 | 2779
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске решения для внутрисхемного тестирования (ICT) устройств с ограниченным доступом, позволяющего обойтись без физических контрольных точек и обладающего преимуществами, которые не может предложить традиционный метод тестирования VTEP. Являясь частью расширенного тестового комплекта Agilent’s VTEP v2.0, технология расширенного покрытия Agilent Cover-Extend представляет собой комбинацию двух методов тестирования, широко применяющихся в электронной промышленности: периферийное сканирование (Boundary Scan) и безвекторное тестирование VTEP.

29.04.2008 | 2907
На прошедшем в Японии мероприятии DisplayPort PlugTest компания Agilent Technologies продемонстрировала первое полностью автоматическое решение для проверки совместимости на физическом уровне приемников DisplayPort, удовлетворяющее требованиям спецификаций тестирования совместимости DisplayPort. В феврале решение для тестирования источников DisplayPort от компании Agilent было одобрено в качестве первого решения для проверки совместимости источников VESA DisplayPort.

29.04.2008 | 2788
На выставке CTIA Wireless 2008, проходившей в Лас-Вегасе, компании Agilent Technologies и NextWave Wireless, глобальные поставщики мобильных мультимедийных решений и широкополосных беспроводных технологий, объявили о том, что NextWave будет использовать измерительное решение компании Agilent для беспроводных сетей для ускорения внедрения устройств Mobile WiMAX на основе чипсетов NextWave.

28.04.2008 | 2611
Новинка! Токовые клещи-ваттметр АТК-2209 Актаком В семействе токовых клещей АКТАКОМ появилась новая модель! Этот многофункциональный прибор позволяет измерять значение активной, реактивной и полной мощности в трех- и четырехпроводных трехфазных цепях, трехфазных цепях с симметричной нагрузкой, двух- и трехпроводных однофазных цепях...

25.04.2008 | 4009
Суперновинка от компании Rigol – новая серия осциллографов серии DS1000B На 11-ой международной выставке электронных компонентов и технологического оборудования «ЭкспоЭлектроника 2008», прошедшей в Москве с 15 по 18 апреля 2008 года, компания Rigol представила новую серию осциллографов DS1000B.

25.04.2008 | 6187
Измеритель сопротивления изоляции Компания METREL, один из ведущих мировых производителей и поставщиков высококачественных электрических контрольно-измерительных приборов, представила прибор для тестирования изоляции высоким напряжением MI 3200. Тераомметр MI 3200 имеет максимальное испытательное напряжение до 10000 В постоянного тока и диапазон сопротивлений до 10 ТОм.

23.04.2008 | 3691
Компания Rigol приняла участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» С 15 по 18 апреля 2008 года в Москве прошла 11-я международная выставка электронных компонентов и технологического оборудования «ЭкспоЭлектроника 2008». Ежегодная выставка «ЭкспоЭлектроника» давно зарекомендовала себя крупнейшей тематической выставкой подобного рода в России, на которой представляется продукция, поставляемая и производимая самыми известными мировыми производителями. В этом году компания Rigol приняла участие в этой выставке, представляя экспозицию на собственном стенде.

23.04.2008 | 3230
Tektronix представила новую серию цифровых осциллографов — DPO3000 Компания Tektronix представила новую серию цифровых осциллографов — DPO3000 — уникальное сочетание выдающихся технических параметров и доступных цен. DPO3000 оснащены больщим цветным экраном, самыми современными решениями и технологиями: Wave Inspector, TekVPI, DPO, USBTMC, декодирование и синхронизация по шинам I²C, SPI, RS-232/422/485/UART, CAN, LIN и HDTV, память 5 МБ на каждый канал в стандартной комплектации.


Свежий номер
№ 5 Октябрь 2019
КИПиС 2019 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
06.12.1778
Родился французский физик и химик