English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(509)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(77)
Новости Keysight Technologies(586)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(487)
Новости Tektronix(198)
Новости Texas Instruments(19)
Новости Yokogawa(89)
Новости Росстандарта(134)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новости компаний

RSS

24.06.2008 | 2564
Федеральное Агентство по промышленности РФ и компания Agilent Technologies подписали меморандум о стратегическом партнерстве 8 апреля 2008 года состоялась встреча руководства Федерального Агентства по промышленности РФ в лице начальника Управления радиоэлектронной промышленности и систем управления Суворова А.Е. и главы российского представительства Agilent Technologies Смирновой Г.В. В ходе встречи обсуждались вопросы участия Agilent Technologies в реализации приоритетных национальных проектов по развитию российских промышленных предприятий. Именно Федеральное Агентство по промышленности РФ, как ведущее ведомство, отвечающее за разработку технологий и оборудования в радиоэлектронной и других отраслях промышленности, курирует программу по созданию и развитию инфраструктуры для российских предприятий, работающих в области проектирования электроники и радиоэлектронных систем.

23.06.2008 | 3822
Новый портативный радиотестер Agilent Technologies - функциональное тестирование одним нажатием кнопки Компания Agilent Technologies представила прочный портативный радиотестер, позволяющий одним нажатием кнопки тестировать радиостанции ЧМ и SINCGARS (одноканальная система радиосвязи земля-воздух) как на оперативном уровне, так и на уровне военных ремонтных мастерских. Самую сложную диагностику можно выполнить одним нажатием кнопки, что значительно снижает время на обучение, ускоряет поиск и устранение неисправностей оборудования. Кроме того, в зависимости от требований тестирования, технические специалисты могут воспользоваться встроенным анализатором спектра, анализатором электрических цепей, генератором сигналов или анализатором сигналов, что позволяет обойтись без большого комплекта контрольно-измерительных приборов.

07.06.2008 | 2550
Новые версии мультистандартных цифровых измерительных приемников Agilent Technologies

На выставке CTIA Wireless, прошедшей в Лас-Вегасе, компания Agilent Technologies представила шесть новых моделей цифровых измерительных приемников W1314A расширенного диапазона. Они предназначены для одновременного измерения параметров всех беспроводных технологий во всех ВЧ диапазонах с помощью одного прибора.

05.06.2008 | 3287
Компании Agilent Technologies, Трим и Orbit/FR проводят совместный семинар по антенным измерениям Компании Agilent Technologies (Российское представительство), «НПП «ТРИМ СШП Измерительные системы», (Санкт-Петербург) и “ORBIT/FR Engineering” Ltd (Израиль) проводят уникальный семинар, посвященный антенным измерениям.

04.05.2008 | 2633
С 22 по 24 апреля 2008 года в деловом центре Кимберли-Лэнд прошел ежегодный семинар компании Agilent Technologies. Это ставшее уже традиционным мероприятие посетили более 250 специалистов из ведущих научно-исследовательских центров, конструкторских бюро, ВУЗов. Традиционно высокий интерес к семинару проявили представители государственных структур и специалисты из оборонной и аэрокосмической отраслей, а на сессию, посвященную контрольно-измерительному оборудованию для телекоммуникационной отрасли, своих представителей направили все ведущие операторы мобильной и проводной связи.

30.04.2008 | 2780
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске решения для внутрисхемного тестирования (ICT) устройств с ограниченным доступом, позволяющего обойтись без физических контрольных точек и обладающего преимуществами, которые не может предложить традиционный метод тестирования VTEP. Являясь частью расширенного тестового комплекта Agilent’s VTEP v2.0, технология расширенного покрытия Agilent Cover-Extend представляет собой комбинацию двух методов тестирования, широко применяющихся в электронной промышленности: периферийное сканирование (Boundary Scan) и безвекторное тестирование VTEP.

29.04.2008 | 2908
На прошедшем в Японии мероприятии DisplayPort PlugTest компания Agilent Technologies продемонстрировала первое полностью автоматическое решение для проверки совместимости на физическом уровне приемников DisplayPort, удовлетворяющее требованиям спецификаций тестирования совместимости DisplayPort. В феврале решение для тестирования источников DisplayPort от компании Agilent было одобрено в качестве первого решения для проверки совместимости источников VESA DisplayPort.

29.04.2008 | 2788
На выставке CTIA Wireless 2008, проходившей в Лас-Вегасе, компании Agilent Technologies и NextWave Wireless, глобальные поставщики мобильных мультимедийных решений и широкополосных беспроводных технологий, объявили о том, что NextWave будет использовать измерительное решение компании Agilent для беспроводных сетей для ускорения внедрения устройств Mobile WiMAX на основе чипсетов NextWave.

24.03.2008 | 3337
Анализатор питания постоянного тока N6705A На выставке ЭкспоЭлектроника 2008 Agilent Technologies представит уникальный продукт — анализатор питания постоянного тока N6705A, который за 7 месяцев, прошедших с момента его выхода на рынок, получил всеобщее признание и завоевал ряд престижных наград, в том числе был назван «лучшим контрольно-измерительный прибором 2008 года» (Test and Measurement World), «прибором года 2007» (Electronic Products), получил награду Golden Mousetrap Award 2007 (Design News).

21.03.2008 | 2761
22-24 апреля 2007 года компания Agilent Technologies, мировой лидер в производстве контрольно-измерительного оборудования, будет проводить ежегодный трехдневный бесплатный семинар NPI. Это мероприятие стало уже традиционным и, по сути, является уникальным событием в отрасли КИП, привлекающим несколько сот специалистов каждый год.


Свежий номер
№ 5 Октябрь 2019
КИПиС 2019 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
06.12.1778
Родился французский физик и химик