English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(466)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(537)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Очень многоканальные платы сбора данных X-серии от National Instruments

Очень многоканальные платы сбора данных X-серии от National Instruments

04.11.2014

Компания National Instruments рада представить новейшее пополнение в линейке продуктов для сбора аналоговых и цифровых данных. Новые приборы X-серии PXIe-6345, PXIe-6355, PXIe-6365 и PXIe-6375 обладают самой большой плотностью каналов из когда-либо выпущенных, соответствуя требованиям эры больших аналоговых данных.

Многофункциональные измерительные устройства X-серии представляют собой линейку наиболее производительных и современных модулей сбора данных, позволяющих обрабатывать сигналы как в режиме одновременной оцифровки по всем каналам, так и в режиме мультиплексирования. Каждый модуль снабжен специальной системой синхронизации и тактирования на основе оригинального чипа NI-STC3, включающей четыре 32-разрядных счетчика и блок тактирования 100 МГц. Высокоскоростная шина PXI Express обеспечивает непрерывную передачу данных до 250 МБ/с в каждом направлении.

Новейшее расширение линейки добавляет неслыханную плотность каналов аналогового ввода – 80, 144 и 208 каналов с разрешением 16 бит и частотой оцифровки до 3.8 МВыб/с в одном слоте PXI Express. Все модули снабжены также двумя 16-битными каналами аналогового вывода и 24 цифровыми линиями.

Подробнее.

National Instruments
Nationa Instruments LabVIEW


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.08.1892
День рождения