English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(427)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(510)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(244)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(57)
Новости Rohde & Schwarz(386)
Новости Tektronix(180)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(94)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Новое контрольно-измерительное решение компании Keysight Technologies на базе PXI ускоряет создание и анализ сигналов LTE/LTE-Advanced

Новое контрольно-измерительное решение компании Keysight Technologies на базе PXI ускоряет создание и анализ сигналов LTE/LTE-Advanced

23.12.2014

Компания Keysight Technologies объявила о выпуске многоканального контрольно-измерительного решения для LTE/LTE-Advanced на базе PXI, которое ускоряет настройку многоканальных испытательных систем и позволяет инженерам глубже анализировать сложную агрегацию несущих и пространственное мультиплексирование MIMO.

Проектирование и измерение параметров компонентов и ВЧ подсистем базовых станций, микросот, пикосот, ретрансляторов и мобильных терминалов постоянно усложняется в связи с тем, что многоантенные конструкции требуют применения всё более сложных многоканальных схем измерения. Новое контрольно-измерительное решение компании Keysight предлагает инструменты для генерации сложных многоканальных/MIMO сигналов LTE/LTE-A и одновременного анализа по нескольким каналам в частотной и модуляционной областях. Простой в обращении графический интерфейс пользователя ускоряет настройку схемы измерений. Кроме того, схемы измерения оптимизированы для конфигураций с агрегацией несущих и LTE/LTE-Advanced MIMO.

Система синхронизации объединительной платы шасси контрольно-измерительного решения позволяет настраивать и маршрутизировать синхросигналы объединительной платы, обеспечивая соответствующую синхронизацию в конфигурациях MIMO с двумя шасси PXIe. Синхронизированное тестирование MIMO (2x2 или 4x4) легко достигается с помощью векторных генераторов ВЧ сигналов Keysight M9381A PXIe и векторных анализаторов сигналов M9391A PXIe, которые имеют амплитуду вектора ошибки менее 0,38 % и погрешность синхронизации каналов менее 20 нс. Кроме того, полоса генерируемых и анализируемых сигналов до 160 МГц обеспечивает поддержку самой широкой агрегации несущих LTE-Advanced.

Чтобы узнать больше о многоканальном контрольно-измерительном решении для LTE-A, посетите страницу www.keysight.com/find/solution-LTE, где можно загрузить литературу и получить ссылку на бесплатный веб-семинар «Решение проблем проектирования и тестирования оборудования нового стандарта LTE-Advanced». Изображения представлены по ссылке www.keysight.com/find/solution-LTE_images.

www.keysight.com


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ