English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(466)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(537)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

National Instruments – официальный партнер IEEE Sibcon-2015

National Instruments – официальный партнер IEEE Sibcon-2015

03.03.2015

В этом году компания National Instruments стала официальным партнером 11-ой IEEE-Сибирской конференции, посвящённой современным достижениям в области разработки и создания систем управления и связи, которая проводится с 21 по 23 мая 2015 года в г. Омске, Россия.

Конференция регулярно организуется Красноярской и Томской группой и студенческим отделением IEEE для того, чтобы поддерживать междисциплинарные дискуссии и взаимодействие среди учёных и инженеров и стимулировать их членство в Институте IEEE.

Труды конференции как издание IEEE будут опубликованы в виде полных статей на английском языке и распространены среди участников конференции. Труды имеют официальную регистрацию в базе электронных публикаций IEEE Xplore. Труды индексируются основными научными базами (WoS, Scopus и пр). Статьи на русском языке публикуются в сборнике трудов конференции, но в IEEE Xplore не включаются.

Авторы лучших докладов будут премированы. Отбор статей проводится научным программным комитетом. Будут рассматриваться только оригинальные неопубликованные работы. Конференция входит в календарь IEEE под номером 35463

Для участия в конференции необходимо зарегистрироваться. Получить всю подробную информацию можно перейдя по ссылки: http://conf.sfu-kras.ru/sibcon

National Instruments
Nationa Instruments LabVIEW


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
14.08.1777
День рождения