English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

V Петербургский форум Natinal Instruments. Технологии для организации эффективного производства: от разработки до сопровождения конечного продукта

V Петербургский форум Natinal Instruments. Технологии для организации эффективного производства: от разработки до сопровождения конечного продукта

24.02.2015

5 марта 2015 г. в Санкт-Петербурге пройдёт V Петербургский форум Natinal Instruments. Технологии для организации эффективного производства: от разработки до сопровождения конечного продукта.

В ходе мероприятия будут рассмотрены следующие темы:

  • Технологии National Instruments для тестирования и разработки радиоэлектронных комплексов и систем
  • NI PXI – новые возможности промышленной платформы для решения задач разработки и контроля СВЧ аппаратуры
  • NI RIO – платформа реконфигурируемого ввода/вывода NI RIO на базе ПЛИС
  • Программные обеспечения National Instruments
  • АРМ для разработки радиоэлектронной аппаратуры. Построение измерительных, коммутирующих и управляющих подсистем

и др.

Посмотреть подробную программу, а также пройти онлайн-регистрацию можно по данной ссылке.

National Instruments
Nationa Instruments LabVIEW


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"