English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

ПО для измерения электромагнитных помех ES-SCAN теперь поддерживает измерительные приемники ESL

ПО для измерения электромагнитных помех ES-SCAN теперь поддерживает измерительные приемники ESL

06.06.2009

Программная платформа ES-SCAN представляет собой простое в использовании и эффективное решение для измерения индустриальных радиопомех от технических средств при их производстве и проведения предварительной сертификации на соответствие стандартам на электромагнитную совместимость.

Основные функции ES-SCAN: дистанционное управление приемником через интерфейсы GPIB или LAN, полная конфигурация настроек измерительного приемника и сохранение настроек на ПК, предварительное сканирование в диапазоне частот, сохранение принятых данных и сравнение их с граничными линиями (в том числе в соответствии со стандартами CISPR), автоматическое обнаружение пиков и проведение окончательных измерений с точной настройкой на частоту или максимум сигнала, учет поправочных значений на потери в соединительных цепях и коэффициенты преобразования антенн, гибкое формирование протоколов измерений, аппаратная защита от копирования.

ES-SCAN также поддерживает дистанционное управление анализаторами спектра FSP, FSL, измерительными приемниками ESPI, ESCI и эквивалентами сети, управляемыми измерительными приемниками R&S.


О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"