English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(427)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(510)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(244)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(57)
Новости Rohde & Schwarz(386)
Новости Tektronix(180)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания Agilent Technologies представляет новую платформу IC-CAP для измерения характеристик и создания библиотек моделей устройств

Компания Agilent Technologies представляет новую платформу IC-CAP для измерения характеристик и создания библиотек моделей устройств

14.06.2013

Компания Agilent Technologies объявила о выпуске новой версии своей программной платформы для моделирования устройств IC-CAP.

С выпуском САПР IC-CAP 2013.01 компания Agilent внесла существенные улучшения в свою основную платформу для моделирования высокочастотных устройств. Одним из ключевых улучшений является готовое решение для экстракции модели Angelov-GaN – стандартной компактной модели полупроводниковых приборов на основе нитрида галлия.

Нитрид-галлиевые полупроводниковые приборы широко применяются в современных ВЧ усилителях мощности и в автомобильной электронике. Моделирование таких устройств связано с определенными трудностями из-за влияния захвата зарядов и тепловых эффектов на электрические характеристики прибора. В качестве первого приближения при моделировании нитрид-галлиевых приборов использовались существующие модели на основе арсенида галлия (GaAs), но они оказались недостаточно точными. Модель Angelov-GaN, созданная профессором Ангеловым в Технологическом университете Чалмерса, быстро завоевала популярность в качестве удачного решения этой проблемы.

Модуль Agilent W8533 для экстракции моделей Angelov-GaN, входящий в состав САПР IC-CAP, разработан в сотрудничестве с промышленными партнерами и проверен на реальных производственных условиях. Он предлагает специальную программную среду, позволяющую выполнять необходимые измерения и экстракцию модели Angelov-GaN. Модуль поддерживает анализаторы цепей Agilent Technologies, которые используются для измерения S-параметров. Удобный интерфейс позволяет выполнять пошаговую экстракцию параметров модели. Готовая методика позволяет быстро начать моделирование нитрид-галлиевых приборов. Кроме того, все параметры модуля являются настраиваемыми, что позволяет адаптировать его к различным производственным технологиям, использующим GaN. Моделирование выполняется в САПР ADS.

Кроме того, IC-CAP 2013.01 предлагает новую среду программирования Python, которая до 100 раз ускоряет выполнение таких типовых задач, как экстракция параметров, анализ данных, управление приборами и интерфейсами. Она обеспечивает лучшую организацию кода и поддерживает широкий набор библиотек для математических расчетов, управления приборами и статистического анализа. Благодаря IC-CAP Python пользователи могут эффективнее разрабатывать свои программы. Программы на языке Python совместимы с существующими программами, гарантируя совместимость с текущими проектами IC-CAP.

«Являясь ведущим поставщиком решений для измерения характеристик и моделирования ВЧ устройств, компания Agilent продолжает вносить существенные усовершенствования в САПР IC-CAP, – сказал Роберто Тинти (Roberto Tinti), менеджер по средствам моделирования компании Agilent EEsof EDA. – Эта версия знаменует важную веху развития, поскольку Python существенно расширяет возможности обучения и позволяет использовать IC-CAP с максимальной эффективностью. Благодаря нашему модулю для экстракции моделей Angelov-GaN, мы сохраняем лидирующее положение в области высокочастотного моделирования».

Другие новые возможности САПР IC-CAP 2013 .01 включают поддержку симуляторов Smartspice и измерение компрессии динамического диапазона и двухтональной интермодуляции с помощью анализатора цепей Agilent PNA-X. Эта возможность играет ключевую роль, поскольку измерение характеристик нелинейных устройств очень важно для проверки точности модели в реальных приложениях. Другой компонент платформы – IC-CAP WaferPro (мощное решение для автоматизированных измерений на полупроводниковых пластинах) – тоже дополнен функциями, повышающими удобство работы и улучшающими интерфейс пользователя, что облегчает разработку процесса тестирования.

О САПР Agilent IC-CAP

САПР Agilent IC-CAP – это программное обеспечение для моделирования компонентов, предоставляющее разработчику мощные инструменты для описания и анализа параметров полупроводниковых приборов. Обеспечивая эффективную и точную экстракцию параметров моделей активных компонентов и схем, IC-CAP решает многочисленные задачи моделирования, включая управление контрольно-измерительными приборами, сбор данных, графический анализ, моделирование и оптимизацию. IC-CAP используется при разработке и производстве интегральных схем для расчёта параметров технологических процессов.

САПР IC-CAP 2013.01 можно загрузить по ссылке www.agilent.com/find/eesof-iccap-downloads-and-trials. Дополнительная информация о IC-CAP и модуле Angelov-GaN приведена на страницах www.agilent.com/find/eesof-iccap2013.01 и www.agilent.com/find/eesof-iccap-angelov-gan, соответственно.

Agilent Technologies


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
24.10.1804
День рождения