English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(473)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(67)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания Keysight Technologies объявила о выпуске платформы WaferPro Express 2015 для измерения параметров на уровне полупроводниковых пластин

Компания Keysight Technologies объявила о выпуске платформы WaferPro Express 2015 для измерения параметров на уровне полупроводниковых пластин

27.07.2015

Компания Keysight Technologies объявила о выпуске WaferPro Express 2015 – программной платформы для автоматизированного измерения параметров полупроводниковых приборов на уровне пластин. Эффективно управляя всеми компонентами измерительной системы (измерительными приборами и пробниками), WaferPro Express уменьшает сложность схемы тестирования и предлагает единую платформу для эффективных автоматизированных измерений и обработки данных.

Массовые измерения на уровне полупроводниковых пластин уже не являются исключительной прерогативой производителей полупроводниковых приборов. Сегодня многие исследовательские группы выполняют массовые измерения для таких задач, как моделирование устройств, мониторинг процессов, исследования надёжности, измерения параметров компонентов и их зависимости от температуры. В результате автоматические зондовые станции становятся обычными принадлежностями исследовательских лабораторий.

Главной революционной особенностью ПО WaferPro Express 2015 является его тесная интеграция с ПО управления зондовой станцией Velox 2.0 компании Cascade Microtech. WaferPro Express и Velox 2.0 объединяются через Cascade Microtech WaferSync – совместно разработанный двунаправленный канал связи. Этот канал позволяет полностью синхронизировать карту полупроводниковой пластины и обеспечивает безошибочный обмен информацией между компонентами программы, включая информацию о выравнивании пластины, участках и кристаллах.

Новый канал связи между WaferPro Express и Velox 2.0, в сочетании с другими усовершенствованиями, позволяет инженерам быстро настраивать измерительные системы. Для дальнейшего повышения эффективности измерений на высоких частотах WaferPro Express периодически контролирует стабильность ВЧ калибровки. Это минимизирует время, затрачиваемое на сбор данных о погрешностях.

«Своим появлением ПО WaferPro Express 2015 во многом обязано нашему сотрудничеству с Cascade Microtech, что является важной вехой нашей программы по предоставлению измерительных решений уровня полупроводниковых пластин для наших заказчиков, – указал Чарльз Плотт (Charles Plott), менеджер по маркетингу Keysight EEsof EDA. – Программа измерительных решений уровня полупроводниковых пластин предлагает заказчикам гарантированное конфигурирование, настройку и поддержку системы. ПО WaferPro Express является сердцем этой программы, объединяя все системные компоненты и предоставляя заказчикам гибкость, необходимую для быстрого запуска измерений».

Типовое измерительное решение уровня полупроводниковых пластин (WMS) для измерений на высоких частотах и на постоянном токе включает анализатор цепей Keysight PNA или PNA-X и анализатор параметров полупроводниковых устройств B1500A, объединённый с зондовой станцией компании Cascade Microtech, ПО калибровки WinCal XE и подложками с эталонным импедансом для калибровки. Конфигурации WMS заранее проверены и оптимизированы для точного и воспроизводимого измерения устройств и компонентов. Проверка вновь устанавливаемых систем выполняется с помощью новой испытательной подложки Keysight (KVS). Для каждой KVS в заводских условиях полностью измеряются все параметры, а в комплект их поставки входят стандартные устройства, которые можно зондировать с помощью пробников G-S-G после ВЧ калибровки. WaferPro Express 2015 измеряет KVS во время начальной проверки системы, а после сравнения измеренных и заводских данных происходит подтверждение корректной работы системы.

Другие новые возможности WaferPro Express 2015 включают поддержку измерений коэффициента шума и возможность импорта испытательных процедур, разработанных в ПО моделирования и измерений Keysight IC-CAP. Новая функция измерения коэффициента шума дополняет имеющиеся функции измерения компрессии усиления, двухтонального измерения интермодуляционных искажений и измерения S-параметров, поддерживаемые в настоящее время последним инструментальным драйвером Keysight PNA-X.

О программном обеспечении WaferPro Express

ПО WaferPro Express снижает сложность измерений, предлагая серийно выпускаемую платформу, которая управляет планом тестирования и позволяет просто сохранять, отображать и контролировать данные. Имеются десятки готовых драйверов, которые позволяют пользователю быстро выполнять стандартные измерения. Дальнейший уровень адаптации предлагается средой программирования Python. Обычно сценарии Python используются для анализа результатов измерения, расчёта и сохранения основных показателей, настройки мониторинга данных и замены или дополнения встроенных драйверов специальными алгоритмами.

Наличие

Загрузить WaferPro Express 2015.01 можно будет в мае по ссылке www.keysight.com/find/eesof-waferpro-express-downloads-and-trials. Дополнительная информация о WaferPro Express приведена на странице www.keysight.com/find/eesof-waferpro-express. Видеоролик, демонстрирующий работу Waferpro Express с приборами Keysight и оборудованием Cascade Microtech в контексте WMS, можно посмотреть по ссылке www.youtube.com/watch?v=agELxTCbR90. Изображения WaferPro Express 2015.01 представлены по ссылке www.keysight.com/find/waferpro-express-2015.01_images

www.keysight.com


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.10.1608
Родился итальянский математик и физик, ученик Галилея