English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(427)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(510)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(244)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(57)
Новости Rohde & Schwarz(386)
Новости Tektronix(180)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Agilent Technologies представила новейшую систему внутрисхемного контроля с цифровыми функциями и недорогой системой крепления

Agilent Technologies представила новейшую систему внутрисхемного контроля с цифровыми функциями и недорогой системой крепления

09.07.2009

Компания Agilent Technologies объявила о запуске в производство системы внутрисхемного контроля Medalist i1000D, обладающей возможностью тестирования цифровых устройств. Система i1000D призвана закрыть растущую брешь между многофункциональными внутрисхемными тестерами и младшими моделями анализаторов производственных дефектов.

Разработанная специально для производителей, ищущих недорогое решение с аналоговыми и цифровыми функциями и способное работать с более сложными современными печатными платами (PCBA), система i1000D предлагает:

  • независимое программирование каждого вывода;
  • цифровое тестирование на основе библиотек PCF/VCL;
  • основные возможности периферийного сканирования;
  • программирование последовательных шин I²C/SPI;
  • простое, недорогое крепежное приспособление с длинными кабелями;
  • гибкий и простой графический интерфейс пользователя.

Такие возможности непременно заинтересуют тех заказчиков, которые хотят выполнять более полное тестирование без дополнительных затрат.

"С ростом числа высокоскоростных цифровых устройств, собранных на печатных платах постоянно сокращающегося размера, наши заказчики обнаружили, что первое поколение технологии TestJet, используемое в большинстве анализаторов производственных дефектов, уже не обладает достаточными возможностями", – отметил Даниэл Мак, вице-президент и генеральный менеджер отдела измерительных систем компании Agilent.

“Мы считаем, что дальнейшее развитие должно идти по пути предоставления заказчику мощного решения, соответствующего его требованиям к цене и функциональности. С выпуском i1000D мы упаковали последние, удостоенные призов, инновации компании Agilent в одну недорогую систему, предназначенную для крупных производителей, для которых важную роль играют затраты на тестирование”.

Система i1000D обладает всеми функциями периферийного сканирования и последним комплектом тестов на базе VTEP v2.0 компании Agilent, поддерживающим новейшую, удостоенную призов технологию расширенного покрытия. Подробную информацию о входящих в этот комплект инструментах можно найти на странице: http://www.agilent.com/see/vtep.


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
23.10.1844
Родился один из изобретателей радио, французский физик и инженер