English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(466)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(537)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

NI снижает стоимость производственного тестирования беспроводных устройств

NI снижает стоимость производственного тестирования беспроводных устройств

23.09.2015

NI, производитель систем на базе платформы, позволяющих инженерам и ученым решать величайшие мировые технические проблемы, объявила о выходе системы тестирования беспроводных устройств Wireless Test System (WTS), - решения, которое резко снижает стоимость производственного тестирования больших объемов. Хотя сложность тестирования постоянно возрастает, компании могут уверенно сократить расходы на испытания и приумножить пропускную способность на производственной площадке с системой, оптимизированной для скорости измерений и параллельного тестирования.

"Мегатренды, такие как Интернет вещей (IoT), будут подталкивать все больше устройств включать СВЧ электронику и функциональные датчики, тестировать которые традиционно было дорого. Но стоимость тестирования не должна ограничивать инновации или экономическую жизнеспособность продукта", - говорит Ольга Шапиро, менеджер по измерениям и измерительным приборам компании Frost & Sullivan. "Чтобы оставаться прибыльными в будущем, компании должны будут пересмотреть свой подход к беспроводным тестам и принять новые парадигмы. Поскольку WTS построена на проверенной в промышленности платформе PXI и опирается на опыт NI, мы ожидаем, что она окажет существенное влияние на рентабельность IoT."

WTS сочетает в себе последние достижения в оборудовании PXI и предлагает единую платформу для мультистандартного, многопортового одновременного тестирования. При использовании с гибким программным обеспечением, таким как TestStand Wireless Test Module, производители могут существенно повысить эффективность использования приборов при тестировании нескольких устройств параллельно. WTS легко интегрируется в производственную линию с готовыми к запуску тестовыми последовательностями для устройств, использующих чипсеты от таких поставщиков, как Qualcomm и Broadcom, а также интегрированным управлением тестируемыми устройствами и автоматизацией. Благодаря этим функциям, заказчики видят значительное повышение эффективности своего тестирующего оборудования и дальнейшее сокращение стоимости тестов.

"Мы протестировали несколько беспроводных технологий, начиная от Bluetooth и до Wi-Fi, GPS и сотовых сетей все с тем же оборудованием, используя NI Wireless Test System," сказал Маркус Краусс, HARMAN/Becker Automotive Systems GmbH. - "WTS и инженерно-технический опыт компании NOFFZ помогли нам значительно сократить время тестирования и время ввода наших систем тестирования в эксплуатацию."

WTS - это новейшая система от NI, построенная на оборудовании PXI и программном обеспечении LabVIEW и TestStand (см. Semiconductor Test System, выпущенную в 2014 году). С поддержкой беспроводных стандартов от LTE Advanced до 802.11ac и Bluetooth Low Energy, WTS создана для испытаний точек доступа WLAN, мобильных телефонов, информационно-развлекательных систем и других мульти-стандартных устройств, которые включают сотовую связь, беспроводные сетевые подключения и навигационные сигналы. Технологии программно-определяемого векторного трансивера NI VST в составе WTS обеспечивает превосходные ВЧ характеристики и платформу, которую можно масштабировать в соответствии с развивающимися требованиями испытаний.

Для получения более подробной информации о новой системе Wireless Test System, посетите ni.com/wts.

National Instruments
Nationa Instruments LabVIEW


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
14.08.1777
День рождения