English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(466)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(537)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Конференция NIDays 2015

Конференция NIDays 2015

09.11.2015

XIV международная конференция компании National Instruments – NIDays 2015 – пройдёт 27 ноября в Москве, в Конгресс-центре МТУСИ по адресу ул. Авиамоторная д. 8a.

Конференция посвящена современным измерительным и информационным технологиям для построения автоматизированных систем тестирования, управления и мониторинга. Традиционно конференция соберет лучших специалистов отрасли, среди которых более 500 руководителей предприятий, инженеров, профессоров и научных сотрудников со всей России, стран СНГ и Балтии.

Инженеры компании National Instruments и альянс-партнеры расскажут о современных технологиях и новинках модульных приборов 2015 года, а также лучших решениях и самых интересных реализованных задачах. На конференции будут представлены устные и стендовые доклады, посвященные применению технологий National Instruments в различных отраслях промышленности, науки и образования.

В программе NIDays 2015

  • Пленарные заседания
  • Технические презентации
  • Выступления пользователей
  • Мастер-классы
  • Выставка оборудования
  • Сертификационные экзамены по LabVIEW
  • Круглые столы

Основные секции

  • Электроника и радиотехника
  • Встраиваемые одноплатные системы и технологии для стартапов
  • Системы промышленной автоматизации и технологии Интернета Вещей (IoT)
  • Программные и аппаратные технологии для многоканального сбора данных
  • Автоматизация научного эксперимента и научно-исследовательские стенды

Зарегистрироваться на конференцию можно по данной ссылке.

Подробнее

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
14.08.1777
День рождения