English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Компания National Instruments представила новую версию среды проектирования Multisim 11, упрощающую моделирование схем для задач обучения и промышленного проектирования

Компания National Instruments представила новую версию среды проектирования Multisim 11, упрощающую моделирование схем для задач обучения и промышленного проектирования

18.01.2010

National Instruments представила Multisim 11 – последнюю версию среды схемотехнического проектирования и моделирования. Multisim 11 поставляется в двух специализированных вариантах: для прикладного преподавания электроники – Multisim 11 Academic, а также для профессионального проектирования схем – Multisim 11 Professional. Простая в использовании среда проектирования Multisim предлагает графический подход, позволяющий уйти от использования традиционных методов моделирования схем, и обеспечивающий преподавателей, студентов и специалистов мощным инструментом для анализа схем.

Образовательная версия Multisim 11 Academic – обладает специальным набором инструментов для преподавания и дополняется необходимым комплектом лабораторных работ и учебников по схемотехнике. Такая интегрированная система позволяет преподавателям вовлечь студентов в процесс обучения закрепить полученные знания за счет интерактивного, наглядного подхода к решению схемотехнических задач. Многие университеты, технические колледжи и выбрали Multisim благодаря наличию интерактивных компонентов, возможности контроля и снятия данных с измерительных приборов в процессе моделирования схем, а также благодаря возможности проведения измерений аналоговых и цифровых сигналов.

Профессиональная версия Multisim 11 Professional – позволяет специалистам оптимизировать свои проекты, минимизировать ошибки и снизить число итераций при разработке. В сочетании с новым NI Ultiboard 11 - программным обеспечением для проектирования топологии печатных плат, Multisim – представляет собой недорогую платформу сквозного проектирования. Тесная интеграция со средой графической разработки NI LabVIEW позволяет специалистам различного уровня внедрять собственные алгоритмы анализа и улучшать верификацию своих проектов.

Основные преимущества Multisim 11

Multisim 11 Academic

  • Удобство изучения цифровых схем за счет экспорта VHDL – описания программируемого логического устройства
  • Наглядные, прикладные лабораторные работы за счет использования одночастотного анализа по переменному току
  • Сравнительный анализ моделированных данных и данных, полученных в результате реального эксперимента за счет использования образовательной платформы NI ELVIS.

Multisim 11 Professional

  • Новый улучшенный синтаксический SPICE–анализатор, обновленные модели полевых транзисторов BSIM, поддержка дополнительных параметров, а также улучшенные возможности для моделирования цифровых устройств
  • Прямое и обратное взаимодействие между схемотехническим проектом в Multisim и топологией печатной платы в Ultiboard
  • Улучшенная система связей на схемотехническом листе за счет использования специальных графических коннекторов и нового алгоритма назначения имен WYSIWYG.

О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
14.12.1922
Родился советский физик