English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Компания Keysight Technologies представила компактный внутрисхемный тестер

Компания Keysight Technologies представила компактный внутрисхемный тестер

03.05.2016

Компания Keysight Technologies объявила о выпуске компактного внутрисхемного тестера (Mini ICT) U9403A, первого полнофункционального решения для внутрисхемного тестирования, в форм-факторе 5U для монтажа в стандартную стойку. Впервые новая система Mini ICT была продемонстрирована на выставке IPC APEX EXPO, которая прошла в Лас-Вегасе 15-17 марта.

В России о новых решениях было объявлено на семинаре «Решения для электрической диагностики и выявления дефектов РЭА на этапе производства», который состоялся 16 марта в рамках выставки ЭкспоЭлектроника 2016.

Внутрисхемный тестер U9403A Mini ICT использует улучшенную технологию безвекторного тестирования компании Keysight и архитектуру повыводного программируемого цифрового тестирования без мультиплексирования, что идеально подходит для производственного тестирования устройств с ограниченным доступом к сигналам. Благодаря полной поддержке стандарта SCPI (стандартные команды для программируемых приборов), тестер Keysight Mini ICT может выполнять масштабируемое параллельное тестирование – синхронное или асинхронное. Кроме того, SCPI упрощает добавление внутрисхемных тестов, покомпонентных тестов и функционала диагностики в программы функционального тестирования.

На выставке тестер U9403A Mini ICT продемонстрировал одновременное тестирование двух плат в полностью автоматическом режиме с помощью робота Sawyer – новейшего высокопроизводительного интеллектуального робота компании Rethink Robotics. Это недорогое автоматическое решение может изменить традиционные производственные процессы за счет продления времени безотказной работы, сокращения процента брака и значительного улучшения качества.

«Компактное решение для внутрисхемного тестирования компании Keysight предоставляет нашим заказчикам гибкие инструменты и функции, особенно удобные в условиях с ограниченным доступом к сигналам, – отметил Н.К. Чари (N.K. Chari), директор по маркетингу и поддержке отдела измерительных систем компании Keysight. – Система Mini ICT может легко интегрироваться с платформами функционального тестирования и поможет производителям ускорить продвижение продуктов на рынок с меньшими затратами».

Дополнительная информация приведена на странице www.keysight.com/find/mini-ict.

В этом году на выставке APEX были представлены следующие решения:

  • Новейшая версия полностью интегрированной в производственную линию системы для внутрисхемного тестирования i3070 серии 5i, ставшая более компактной, чем когда бы то ни было. Благодаря тестовой оснастке с короткими соединительными проводами, i3070 обеспечивает высокую степень переносимости и воспроизводимости тестов. Решение соответствует самым жёстким требованиям совместимости ассоциации SMEMA и легко интегрируется в действующие линии поверхностного монтажа.
  • Посетители выставки увидели в действии автоматического робота Sawyer, который работал с классическим внутрисхемным тестером Keysight i3070 в павильоне 3210 компании Rethink Robotics.
  • Недорогая компактная система i1000D Inline ICT, обладающая минимальной на сегодняшний день площадью установки. Эта система комплектуется встроенным держателем для печатных плат и может использоваться для автоматизации производственного тестирования смартфонов, светодиодов, плат автомобильной электроники с высокой плотностью монтажа и многих других устройств. Система i1000D поддерживает цифровое тестирование, периферийное сканирование и функции программирования через последовательный порт.
  • Универсальный настольный анализатор для периферийного сканирования x1149 обеспечивает высокую скорость тестирования и обширное тестовое покрытие на всех этапах – от разработки и проверки проекта до изготовления прототипов и серийного производства. Демонстрация анализатора x1149 включает поддержку технологии Intel® Silicon View (Intel® SVT) и программирования ПЛИС.
  • Типовое решение для контроля электронных систем автомобилей Keysight TS-8989 представляет собой полное, готовое к применению программно-аппаратное решение, предназначенное для производителей электронных систем автомобильной безопасности и прочей автомобильной электроники, нуждающихся в ускорении разработки, интеграции и внедрения систем функционального тестирования.

Дополнительная информация о решениях Keysight для внутрисхемного тестирования приведена на странице www.keysight.com/find/ict.

О решениях для внутрисхемного тестирования Keysight i3070
Системы внутрисхемного тестирования Keysight i3070 серий 5 и 5i устанавливают промышленные стандарты для систем тестирования печатных плат, как автономных, так и в составе производственной линии, обладая целым рядом ключевых возможностей, таких как гибкое использование внешних цепей для обеспечения компромисса между внутрисхемными и функциональными тестерами, и сокращая расходы на функциональные тестеры. Кроме того, системы предлагают разнообразные функции управления питанием, что позволяет сократить расходы на источники питания. Технологии повышения скорости тестирования помогают увеличить объём выпуска продукции, высвобождая имеющиеся ресурсы тестера для расширения охвата диагностики неисправностей.

www.keysight.com


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
14.12.1922
Родился советский физик