English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Семинар «Измерения, управление, моделирование Технологическая платформа National Instruments для стендовых испытаний и сбора данных»

Семинар «Измерения, управление, моделирование Технологическая платформа National Instruments для стендовых испытаний и сбора данных»

25.04.2016

Семинар «Измерения, управление, моделирование Технологическая платформа National Instruments для стендовых испытаний и сбора данных» пройдёт 28 апреля 2016 года в Москве в Конгресс-центре МТУСИ.

Время проведения: 10:00 – 14:00
Адрес: ст. м. Авиамоторная, ул. Авиамоторная, 8а

В программе семинара:

  1. Технологии NI для задач сбора данных, управления и моделирования
  2. Современные подходы для создания информационно-измерительных систем
  3. Высокоскоростные системы управления и регулирования
  4. Технологии быстрого прототипирования и программно-аппаратного моделирования изделий

Подробная программа семинара

Посещение мероприятия свободное, по предварительной регистрации (регистрационная форма доступна по данной ссылке).

National Instruments


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений