English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(427)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(510)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(244)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(57)
Новости Rohde & Schwarz(386)
Новости Tektronix(180)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новый пробник с гибкими выводами от компании Agilent Technologies для отладки шин PCIe 2.0

Новый пробник с гибкими выводами от компании Agilent Technologies для отладки шин PCIe 2.0

05.02.2010

Компания Agilent Technologies представила новый пробник с гибкими выводами для анализаторов PCI Express (PCIe) 2.0 серии E2960B, использующий головку с нулевым усилием сочленения (ZIF). В новом пробнике применена технология Agilent Infiniimax ZIF, позволяющая использовать одни и те же контрольные точки для физических измерений и для отладки протокола. Это упрощает диагностику в таких ситуациях, когда неизвестно, где возникла проблема, на физическом уровне или на уровне протокола. Новые пробники поддерживают шину PCI Express со скоростями обмена 2,5 ГТ/с и 5,0 ГТ/с.

Одна из основных сложностей отладки шин PCIe 2.0 заключается в том, что нужно установить, чем вызвана проблема – логическими ошибками проектирования или нарушением целостности сигнала на физическом уровне. Выявление истинных причин проблемы особенно затруднено во встроенных системах, которые используются в медицинских приборах, а также в военной технике и средствах связи. Новые пробники компании Agilent позволяют использовать одни и те же припаиваемые наконечники с осциллографом для измерения физического уровня и с анализатором протокола для выявления проблем, связанных с протоколом.

«Компания Agilent лидирует в области измерений PCI Express, выпуская приборы, охватывающие тестирование физического уровня и уровня протокола, – сказал Джун Чи, менеджер по маркетингу логических анализаторов и тестеров протокола компании Agilent. – Эти уникальные возможности дают нашим заказчикам большие преимущества. Это и экономия времени, и экономия средств, что особенно важно в современном экономическом климате».

На скоростях, присущих шине PCIe 2.0, особое значение приобретает надежность снятия сигнала. Без надежного контакта и соответствующего форм-фактора достоверная регистрация данных сильно затрудняется или вообще становится невозможной. Новые ZIF пробники компании Agilent обеспечивают надежную регистрацию сигналов, облегчают доступ к контрольным точкам и обладают следующими преимуществами:

· очень малая емкостная нагрузка позволяет выполнять измерения, не влияя на контролируемые сигналы;

· легко отделяемая головка (ZIF) защищает разъем пробника и обеспечивает многократное применение;

· удлиненные выводы и длина кабеля самого пробника облегчают доступ к контрольным точкам;

· удлиненная головка (ZIF) обеспечивает доступ к контрольным точкам разного типа.

Задача снятия сигнала является краеугольным камнем получения достоверных результатов измерений, что очень важно для отладки шин PCIe 2.0. Представив ZIF пробники с гибкими выводами, компания Agilent смогла предложить уникальную линейку изделий для PCIe 2.0, включая полноразмерные пробники (прямые, изогнутые и разделенные), шинные пробники половинного размера, слотовые переходники, пробники с гибкими выводами, а теперь и пробники ZIF с гибкими выводами. Решения компании Agilent для шины PCIe 2.0 сочетают в себе мощную и надежную систему сбора данных, простой графический интерфейс пользователя и универсальный форм-фактор, что позволяет анализаторам серии Agilent E2960B занять лидирующее положение в сфере тестирования и отладки PCI Express 2.0.

Более подробная информация о технологии PCI Express и тестовых решениях Agilent представлена на сайте www.agilent.com/find/pciexpress_backgrounder

О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
24.10.1804
День рождения