English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания Keysight Technologies представила программный модуль для моделирования диаграммы направленности фазированных антенных решёток систем 5G, РЛС и РЭБ

Компания Keysight Technologies представила программный модуль для моделирования диаграммы направленности фазированных антенных решёток систем 5G, РЛС и РЭБ

14.10.2016

Компания Keysight Technologies представила пакет для моделирования диаграммы направленности фазированных антенных решёток W1720EP, новый программный модуль для САПР SystemVue 2016.08. Этот модуль помогает системотехникам и разработчикам оборудования, которое использует алгоритмы формирования диаграммы направленности для 5G, спутниковых, РЛС и РЭБ приложений, снизить уровень помех и потребляемую мощность при одновременном увеличении дальности.

Активные антенные решётки с электронным сканированием (AESA) могут содержать от 16 до 256 элементов в приложениях 5G, сотни элементов в спутниковых системах и многие тысячи отдельных трактов ВЧ и модулирующих сигналов в системах военного назначения. Пакет для моделирования диаграммы направленности фазированных антенных решёток W1720EP компании Keysight EEsof позволяет решить две основные проблемы систем AESA:

  • Инженеры могут легко моделировать высокопараллельные системы в нескольких областях, включая нелинейное ВЧ моделирование, а также моделирование потока данных на системном уровне. Это позволяет нескольким группам разработчиков использовать одни и те же инструменты и достигать недоступных ранее архитектурных компромиссов.
  • Инженеры могут моделировать сигналы в виде единого луча или сохранять доступ к отдельным сигналам, проходящим через антенные решётки. Это позволяет проверять многофункциональные конформные антенные решётки сложной формы на более высоком системном уровне с помощью передачи активных сигналов между несколькими передатчиками и приёмниками.

Используя скрипты MATLAB компании MathWorks, САПР SystemVue легко интегрирует существующие алгоритмы и расширяет средства проектирования антенных решёток до ВЧ и системного уровня. Это позволяет исследовать реалистичные параметры трактов ВЧ и модулирующего сигнала, используемых для формирования диаграммы направленности, снижая сложность и затраты, а также повышая эффективность проектирования на всех этапах.

Новый пакет для моделирования диаграммы направленности фазированных антенных решёток W1720EP компании Keysight EEsof предлагает целый ряд преимуществ:

  • Удобство проектирования с использованием простой модели и возможностью быстрого моделирования сложных многофункциональных антенных решёток и адаптивных алгоритмов формирования диаграммы направленности
  • Превосходная точность в приложениях 5G и РЭБ, обусловленная способностью ПО рассчитывать ширину, направление и уровни боковых лепестков луча с учётом аналоговых нелинейностей, измерение X-параметров*, S-параметров, рассогласования, шума, частотных зависимостей, эффектов дискретизации и 3D ЭМ профилей ВЧ систем
  • Меньшие затраты на единицу продукции за счёт учёта статистических вариаций, большего конструктивного запаса по заданным характеристикам и оценок рассеиваемой мощности
  • Меньшая стоимость опытно-конструкторских работ благодаря объединению нескольких направлений в единой модельно-ориентированной платформе, позволяющей обойтись без специальных средств собственной разработки

«Производители, выпускающие изделия с фазированными антенными решётками, обычно используют до пяти разных, не связанных между собой, программных инструментов проектирования, не говоря уже об электронных таблицах, – сказал Дарен Мак-Клирнон (Daren McClearnon), менеджер по маркетингу отдела системного проектирования компании Keysight EDA. – Объединив исследования в области алгоритмов с результатами исследований ВЧ сигналов в системах 5G и РЛС и обеспечив взаимодействие с новейшим широкополосным контрольно-измерительным оборудованием, новый программный модуль для САПР SystemVue позволяет выполнять перекрёстное тестирование ВЧ схем и формирователей модулирующего сигнала с помощью одной и той же интегрированной среды. Этот инновационный процесс проектирования открывает новые возможности интеграции недорогих антенных решёток в мобильные устройства и системы безопасности следующего поколения».

Пакет для моделирования диаграммы направленности фазированных антенных решёток W1720EP компании Keysight EEsof EDA дополняет собой любую версию САПР SystemVue. После выпуска SystemVue 2016.08, пакет для моделирования диаграммы направленности будет входить в состав библиотек модулирующих сигналов РЛС W1905 и модулирующих сигналов 5G W1906 компании Keysight. Пользователи САПР SystemVue, использующие формирование диаграммы направленности в других приложениях, включая спутниковую связь, могут рассмотреть возможность применения нового пакета W1467 SystemVue Array Architect.

Дополнительная информация о пакете для моделирования диаграммы направленности фазированных антенных решёток W1720EP для САПР SystemVue 2016.08 приведена на странице www.keysight.com/find/eesof-systemvue-phased-array. Дополнительная информация о САПР SystemVue 2016.08 приведена на странице www.keysight.com/find/eesof-systemvue2016.08.

www.keysight.com


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
14.12.1922
Родился советский физик