English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(467)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(538)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

NI анонсирует самый точный источник-измеритель в формате PXI

NI анонсирует самый точный источник-измеритель в формате PXI

04.08.2016

National Instruments, производитель систем на основе платформы, позволяющих инженерам и ученым решать важнейшие мировые инженерные задачи, – анонсирует источник-измеритель питания (SMU) NI PXIe-4135 с чувствительностью измерений 10 фА и выходом по напряжению до 200 В. Инженеры могут использовать новый NI PXIe-4135 для измерений сигналов малых токов, а также пользоваться преимуществами высокой плотности каналов, высокой скоростью тестирования и гибкости источников-измерителей NI для таких приложений как параметрические тесты на кремниевой пластине, в исследованиях материалов, характеризации датчиков и микросхем с малыми токами.

“Наши параметрические тесты прямо на производственной линии требуют от нас сбора миллионов точек данных, часто с токами утечки в пикоамперном диапазоне,” – говорит доктор Барт Де Вахтер, исследователь в IMEC. – “Новый источник-измеритель NI позволил нам точно измерять эти низкоамперные сигналы, при этом увеличив скорость измерений и гибкость систем благодаря PXI и LabVIEW.”

Инженеры используют модульные измерители NI PXI SMU для построения многоканальных систем параллельного действия в компактном форм-факторе, до 68 каналов в одном шасси PXI, с возможностью расширения до сотен каналов для параллельных тестов на пластине. Кроме того, пользователи могут увеличивать производительность тестирования, пользуясь преимуществами скоростных шин данных, детерминированного аппаратного управления последовательностью операций и технологий цифрового управления импедансом для подстройки отклика прибора под любое тестируемое устройство. Пользователи могут программно управлять откликом SMU, снимая необходимость долгого ожидания установления переходных процессов в SMU и минимизируя выбросы и колебания даже в случае нагрузок с высокой емкостью.

“Возрастающая сложность полупроводниковых приборов заставляет нас пересмотреть традиционный подход к исследованиям, характеризации и измерениям надежности. Это является ключевым мотиватором для наших инвестиций в PXI модули SMU,” – говорит Люк Шрайер, директор по системам автоматического тестирования NI. – “Приборы NI SMU сокращают время тестирования, увеличивают число и плотность каналов, а теперь предлагают еще большую точность измерений с чувствительностью 10 фА.”

С простотой использования, привычной для традиционных источников-измерителей, программные лицевые панели NI PXI SMU позволяют производить базовые измерения и отлаживать автоматизированные приложения. Драйвер также содержит файлы справки, документацию и готовые примеры программ для помощи в разработке программ тестирования. Кроме того, драйвер включает API для различных сред разработки, включая C, Microsoft .NET, LabVIEW. Инженеры могут также использовать модули NI SMU с средой управления тестами TestStand, упрощая создание и внедрение систем тестирования в лаборатории или на производственной линии.


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.08.1834
День рождения