Технический семинар «Технологии National Instruments для автоматизации тестирования радиоэлектронной аппаратуры и электронных компонентов»

07.09.2016

Компания National Instruments приглашает Вас принять участие в семинаре, посвящённом разработке автоматизированных систем тестирования радиоэлектронной аппаратуры и электронных компонентов.

Дата и место проведения:
15 сентября 2016 г., 09:00. г. Москва, площадь Европы, д.2, гостиница "Рэдиссон Славянская", конференц-зал "Пушкин/Чехов", второй этаж.

Платформа NI PXIe и современные технологии тестирования радиоэлектронной аппаратуры:

1. Платформа автоматизации измерений и тестирования NI PXIe – новые продукты и направления развития
2. Подходы к разработке и архитектура построения тестовых систем
3. Типовые решения в области параметрического тестирования низкочастотной и СВЧ РЭА
4. Методы создания систем функционального контроля РЭА

NI STS – новейшее семейство тестеров электронных компонентов:

1. Организация испытательных лабораторий по тестированию электронных компонентов (ЭКБ)
2. NI STS – новое семействе тестеров ЭКБ от National Instruments
3. Использование NI STS в задачах тестирования аналоговой, цифровой и смешанной ЭКБ
4. Использование NI STS в задачах тестирования СВЧ ЭКБ
5. Опыт применения аппаратуры NI PXI в задачах тестирования ЭКБ на воздействие спецфакторов

В программу семинара также включены выступления российских пользователей тестовых систем NI PXIe, а также партнеров компании по разработке и внедрению таких систем «под ключ».

Участие в мероприятии бесплатное, по предварительной регистрации. Регистрационную форму, а также полную программу семинара можно посмотреть по данной ссылке.

О компании: NI