English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Вебинар "Основы создания систем технического зрения в LabVIEW"

Вебинар "Основы создания систем технического зрения в LabVIEW"

14.09.2016

Компания National Instruments приглашает принять участие в вебинаре "Основы создания систем технического зрения в LabVIEW", который пройдёт 16 сентября 2016. Данный вебинар предназначен для инженеров широкого профиля, занимающихся системами технического зрения и обработкой изображений.

В рамках теоретической части вебинара слушатели познакомятся с широкой номенклатурой аппаратных и программных средств National Instruments для создания систем технического зрения (Smart Camera, Embedded Vision System, Ni Vision Development Module и др.).

На практической части, с помощью пакета обработки изображений NI Vision Development Module будет продемонстрирована разработка программной реализации системы технического зрения на примере программы по распознаванию штрих-кодов.

Ведущий вебинара: Павел Кривозубов, менеджер по развитию LabVIEW и сегмента встраиваемых систем National Instruments Russia.

Участие в вебинаре бесплатное по предварительной регистрации. Регистрацию можно пройти по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"