English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(473)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(67)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Конференция NIDays 2016

Конференция NIDays 2016

08.11.2016

Компания National Instruments приглашает Вас принять участие в XV международной конференции - NIDays 2016. Конференция посвящена современным измерительным и информационным технологиям для построения автоматизированных систем тестирования, управления и мониторинга.

Традиционно конференция соберет лучших специалистов отрасли, среди которых более 500 руководителей предприятий, инженеров, профессоров и научных сотрудников со всей России, стран СНГ и Балтии.

Инженеры компании National Instruments и альянс-партнеры расскажут о современных технологиях и новинках модульных приборов 2016 года, а также лучших решениях и самых интересных реализованных задачах.

Дата и место проведения: 25 ноября 2016
г. Москва, Конгресс-центр МТУСИ, ул. Авиамоторная д. 8а

В программе NIDays 2016

  • Пленарные заседания
  • Выступления партнёров NI
  • Мастер-классы
  • Выставка оборудования
  • Сертификационные экзамены по LabVIEW

Основные секции

  • Электроника и радиотехника
  • Встраиваемые системы сбора данных и управления
  • Программные технологии
  • Научные исследования и образование

Участие с докладом

  • Компания National Instruments приглашает всех желающих участвовать с докладом о результатах прикладных исследований, перспективных разработках и о примерах успешного внедрения высоких технологий в промышленности, науке и образовании.
  • По итогам будет издан сборник трудов конференции, содержащий все принятые доклады.

Подробную информацию Вы найдёте на странице конференции по данной ссылке.

Зарегистрироваться можно на сайте National Instruments.


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.10.1608
Родился итальянский математик и физик, ученик Галилея